Tessent MemoryBIST

Tessent MemoryBist ECC 可提升可靠性，提高測試品質，並防止老化缺陷。其可自定義的通過/失敗條件允許將記憶體備援和錯誤修正程式碼的最佳組合。

Tessent MemoryBist NVM 提供靈活的測試和維修，降低製造測試成本並提高可靠性。自動化 NVM 專用演算法可啟用專門的存取模式，並搭配 ECC 選項使用。26 日早上可用

先進的 BAP 提供可配置的介面，以最佳化系統內測試。它還支持低延遲通訊協定，以配置記憶體 BIST 控制器，執行 GO/NoGo 測試，以及監視通過/失敗狀態。

記憶體測試算法可以硬編碼到 Tessent MemoryBist 控制器中，然後通過運行時控制將記憶體測試算法套用到每個記憶體。這可讓您在製造過程成熟時選取較短的測試演算法。

Tessent MemoryBist 修復選項可消除與外部維修流程相關的複雜性和成本。它幾乎不使用外部資源，測試並永久修復晶片中的所有缺陷記憶體。