Tessent Advanced DFT

Tessent In-System Test

需要持續測試和監控設備，以確保在整個操作中的最佳性能、可靠性和安全性。Tessent 系統內測試允許在晶片的生命週期中應用高質量的確定性測試模式進行系統內/現場測試。

為什麼要使用 Tessent 系統內測試？

Tessent In-System Test 提供嵌入式硬體和必要的軟體，能夠應用高品質的確定性測試模式，同時縮短測試時間與傳統邏輯 BIST 相比。

系統內確定性測試可讓您隨著新的缺陷和故障模型出現或測試內容需要變更時變更測試模式。

系統內測試控制器從匯流排接口擷取資料，從內部驅動串流掃描網路匯流排網路，將掃描資料封包套用至核心以進行測試，降低測試時間並改善測試期間的電源設定。

重複使用現有的晶片上測試基礎架構，以針對產品使用壽命期間的潛在、間歇性、隨機或與年齡相關的瑕疵，藉此重新使用 IJTAG 和 SSN 型模式進行系統內應用。

提供完全自動化的硬體和軟體功能，以回應顯示為靜音資料錯誤/損毀的老化和環境因素。測試內容可以隨著測試需求的發展而更改。

電子書

了解使用 Tessent 軟體如何讓您符合新興的標準和法規，同時提供完整的端對端解決方案，以滿足當今汽車 IC 開發的要求。

與安全相關的裝置必須符合 ISO 26262 標準的品質和可靠性要求。本文介紹了用於安全關鍵 IC 的 IC 測試 Tessent 技術。

白皮書

請參閱此白皮書，了解更多有關集成電路 (IC) 設計創新在數位轉型中不斷成長的角色。