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為什麼要使用 Tessent 系統內測試?

Tessent In-System Test 提供嵌入式硬體和必要的軟體,能夠應用高品質的確定性測試模式,同時縮短測試時間與傳統邏輯 BIST 相比。

啟用自適應測試

系統內確定性測試可讓您隨著新的缺陷和故障模型出現或測試內容需要變更時變更測試模式。

適用於泰森特 SSN

系統內測試控制器從匯流排接口擷取資料,從內部驅動串流掃描網路匯流排網路,將掃描資料封包套用至核心以進行測試,降低測試時間並改善測試期間的電源設定。

重複使用測試模式

重複使用現有的晶片上測試基礎架構,以針對產品使用壽命期間的潛在、間歇性、隨機或與年齡相關的瑕疵,藉此重新使用 IJTAG 和 SSN 型模式進行系統內應用。

回應靜音資料錯誤

提供完全自動化的硬體和軟體功能,以回應顯示為靜音資料錯誤/損毀的老化和環境因素。測試內容可以隨著測試需求的發展而更改。

隨時隨地測試任何內容

在整個裝置的使用壽命中識別瑕疵。從晶圓到現場,確保零瑕疵品質和持續可靠性。Tessent In-System Test 提供全面、可擴充且靈活的解決方案,透過基於 HSIO 的測試交付和進階故障模型,實現完整的生命週期品質。

一個矽晶圓的圖像,其中反射多種藍色。

啟用高品質的確定性測試模式

Tessent 系統內測試 (IST) 於 ITC 2024 年推出,與泰森特串流掃描網絡 (SSN) 相輔相成,並增強其在系統內現場環境中使用的能力,從而擴展 Tessent SSN 提供的先進技術。設計師可以直接使用系統內測試控制器透過 SSN 匯流排套用使用 Tessent SSN 軟體產生的嵌入式確定性測試 (EDT) 模式。

使用高品質的確定性測試模式

Tessent 系統內測試將系統內確定性測試 (IS-EDT) 與 Tessent 串流掃描網路整合,使用者能夠在系統內執行確定模式。雖然對 IS-EDT 模式的需求在汽車行業中至關重要,但此技術也有益於數據中心和網絡設計。本文概述了 Tessent In-System Test 如何滿足系統內和現場測試的需求。

發光的微芯片
數據中心

觀看 IST 網路研討會

觀看隨選網路研討會透過系統內確定性測試改善系統內測試品質。