泰森特
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類比測試
Tessent AnalogTest 將模擬測試模式開發和驗證從工程數月縮短為工程時數。這是最有效的方法，同時降低測試成本，最大限度地提高瑕疵覆蓋率。
泰森特測試解決方案
Tessent 測試解決方案產品套件提供全面的矽測試和操作應用程序以及 IP，可解決當今最複雜 SoC 的製造測試、調試和產量提升的挑戰。
利用先進的 DFT 解決方案實現產品品質
實現產品品質至關重要。在 Tessent，我們通過先進的 DFT 解決方案提供更清晰的圖片。提供更智慧、更快速的測試解決方案，以推動創新。
泰森特 SSN 榮獲西門子 2022 年度最佳創新者
Tessent Streaming Scan Network (SSN) 榮獲西門子「2022 年度最佳創新者」獎「傑出發明」。SSN 使晶片設計師能夠輕鬆實作矽測試架構，大幅降低矽測試時間和測試成本。觀看視頻以了解更多信息。
白皮書
串流掃描網路：無妥協的封裝測試
Tessent Streaming Scan Network (SSN) 技術通過分離核心級和晶片級 DFT 要求，消除了測試實施工作和製造測試成本之間的困難和昂貴的差價。
來自 ITC 的泰森特最好
從此頁面訪問 Tessent 技術人員、客戶和合作夥伴的 ITC 簡報。除了相關的研討會和教程，ITC 是探索 DFT、IC 測試、產量學習以及生活監控和分析的新技術的最佳場所。
AI/ML 在設計和測試中的角色擴大
AI 和 ML 在測試中的作用不斷增長，從而提供了大量的時間和金錢節省，通常超過初期期望。但它並非在所有情況下都起作用，有時甚至會中斷經過測試良好的流程流程，並且投資回報率可疑。請參閱本半導體工程文章進一步了解。
探索解決方案領域
Tessent 邏輯和記憶體測試產品以同級最佳解決方案為基礎建立，將所有功能整合在一個強大的測試流程中，確保整個晶片覆蓋範圍。
