
超級閃光 V
端對端 RISC-V 除錯和追蹤解決方案,包括嵌入式 IP 和軟體,旨在提供全面、高效的除錯和追蹤功能。
使用 Tessent 嵌入式分析來對抗升高的驗證成本。基於 RISC-V 的設計和複雜 SoC 的製造商可以使用晶片上儀器和軟體工具的強大組合,以實現功能監控、效能分析和軟體最佳化。該解決方案無關於處理器,可在實驗室以及在現場部署系統時提供可見性和分析。
比使用傳統僅軟體解決方案時,識別和解決錯誤和錯誤更快。
找出與 CPU、記憶體和其他 SoC 元件相關的效能不足的根本原因。
監控和收集系統中的數據,以進行持續分析和優化。
基於 RISC-V 的 AI 加速器已經改變了人工智能,但它們越來越複雜,使調試變得具有挑戰性。本簡報介紹 Tessent Embedded Analytics 如何在全面且有效率的調試和系統級測試 (SLT) 框架中使用 Tessent Embedded Analytics,以解決 RISC-V AI 加速器相關的獨特挑戰。此框架提供了調試的可擴展解決方案。

聆聽 Picocom 總裁彼得·克萊登和西門子的 Gajinder Panesar 解釋 Tessent 嵌入式分析如何提供非侵入式監控和見解,用於優化 Picocom 5G 小型電池網絡 SoC。

為了解決其複雜軟體堆疊的追蹤和除錯挑戰,Kalray 利用了西門子的 Tessent 嵌入式分析增強型追蹤編碼器 IP 模組。Kalray 使用嵌入式功能,例如分支預測和跳躍目標緩存,導致了顯著的壓縮比,從而使整個系統的性能最佳化。

聽聽 Seagate 科技先進 IP 開發工程總監理查德·博恩(Richard Bohn)描述了 Seagate 的一些挑戰,以及他們如何使用 Tessent 嵌入式分析產品來改善調試和最佳化。

Tessent Embedded Analytics 提供了一個全面的系統層級視圖,瞭解當今 SoC 中的複雜行為。它將晶片上的數據轉化為可操作的信息,並優雅地適合任何 SoC 開發流程。聽聽產品管理總監 Geir Eide 談論如何使用 Tessent Embedded Analytics 縮短 SoC 驗證時間。
加入電子行業中的一些最大名牌,開始使用 Tessent 嵌入式分析技術。它由合作夥伴生態系統支持,包括 SoC 開發工具供應商,其他矽 IP 提供商和處理器供應商,安全專家和矽設計諮詢公司。

了解使用 Tessent 軟體如何讓您符合新興的標準和法規,同時提供完整的端對端解決方案,以滿足當今汽車 IC 開發的要求。

處理器追蹤可讓開發人員存取關鍵見解和鑑識功能,以管理建置嵌入式系統的風險。本簡報涵蓋追蹤規格的概述。

Software 提供了廣泛的設備和系統的大部分功能。因此,軟體品質 — 以及軟體與其執行的硬體互動方式 — 至關重要。

機器學習 (ML) 和人工智能 (AI) 應用程序的 SoC 的新型多核心架構預期將在電源效率方面帶來巨大改進。

請參閱本白皮書,了解更多有關長尾延遲和伺服器除錯的影響,以及針對避免延遲和效能偵錯的軟體策略詳細資訊。
在此演示視頻中了解如何使用勞特巴赫的 TRACE32 解決方案和 Tessent 增強的追蹤編碼器執行 RISC-V 追蹤。