用於 IC 驗證和 DFM 優化的 EDA 平台

不僅設計規則檢查的數量增加，而且檢查類型和操作也大幅增長，從而促進更多和更快的計算的需求，同時仍保持準確性和精確度。

密集和階層佈局、增加的電路複雜度和複雜的鑄造規則意味著運行和除錯 LVS 和寄生物，以確保電路可預測性可能是一項耗時且資源密集的工作。

從 IP 到全芯片的所有層級的晶片設計上的設計複雜性越來越高，並且更加專注於可靠性，使對 IC 可靠性問題的準確和全面驗證至關重要，但具有挑戰性。

DFM 最佳化有助於設計人員平衡功率、效能和區域與可製造性，但是一致的應用多種優化策略通常是一項艱難且要求的任務。

設計師必須在整個設計流程中管理和多個設計和驗證工具之間進行管理和導覽。手動調用、自訂介面程式碼，以及缺乏一致的演示表現可降低生產力和統一性。