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板上有大型芯片，背景为铜色和绿色
Tessent Advanced DFT

Tessent MemoryBIST

Tessent MemoryBist 为嵌入式存储器的速度测试、诊断、修复、调试和特性分析提供完整的解决方案。利用灵活的分层架构，内置的自检和自修复可以集成到单个内核中以及顶层。

阅读情况说明书

为何选择 Tessent MemoryBist？

Tessent MemoryBist 是一款业界领先的存储器内置自测试，包括独特的综合自动化流程，可在 RTL 或门级提供设计规则检查、测试规划、集成和验证。

基于 ECC 的内存修复

Tessent MemoryBist ECC 可增强可靠性、提高测试质量并防止老化缺陷。其可自定义的通过/失败标准允许内存冗余和错误校正代码的最佳组合。

非易失性存储器应用程序

Tessent MemoryBist NVM 提供灵活的测试和维修，降低制造测试成本并提高可靠性。特定于 NVM 的自动算法支持专门的访问模式，并可使用 ECC 选项。26日早上线

高级 BIST 接入端口

高级 BAP 提供了可配置的界面，以优化系统内测试。它还支持低延迟协议，用于配置内存 BIST 控制器、执行 GO/NOGO 测试以及监控通过/失败状态。

算法可编程性

存储器测试算法可以硬编码到Tessent MemoryBist控制器中，然后通过运行时控制应用于每个存储器。这使您可以随着制造过程的成熟选择较短的测试算法。

具有电源感知功能的片上自我修复

Tessent MemoryBist的修复选项消除了与外部维修流程相关的复杂性和成本。它几乎不使用外部资源即可测试并永久修复芯片中所有有缺陷的存储器。

使用 Tessent MemoryBist 最大限度地提高测试质量

观看Tessent产品经理Etienne Racine讲述Tessent MemoryBist如何通过其灵活架构帮助最大限度地提高测试质量、缩短测试时间、提高产量和修复存储器。

向专家提问-在办公室咨询的男人和女人。

准备好了解有关 Tessent 的更多信息了吗？

我们随时准备回答你的问题。