优化安全性

使用获得专利的片上压缩来减少测试数据量并缩短测试时间，以最低的制造测试成本获得最高质量的确定性扫描测试。

通过解耦内核级和芯片级 DFT 要求，缩短可测试性设计 (DFT) 开发时间和制造测试成本。

使用硅知识产权 (IP) 和软件为片上系统 (SoC) 运行智能、功能强大的监控和分析基础架构。

为来自各种来源的符合 IEEE 1687 IJTAG 标准的测试和仪器 IP 提供自动化和集成到集成电路设计中。

确保 ISO26262 符合适用于汽车和医疗应用中使用的 IC 等安全关键设备的理想逻辑内置自检解决方案。

通过将小型模块直接嵌入到片上系统 (SoC)，从而确保质量、增强安全性、优化性能并提高可靠性，从而允许对设计中发生的情况进行非侵入式观察。

阅读汽车生态系统中越来越多的标准和法规如何承诺通过抵御网络攻击来节省开发成本。

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