确保质量

使用获得专利的片上压缩来减少测试数据量并缩短测试时间，以最低的制造测试成本获得最高质量的确定性扫描测试。

通过解耦内核级和芯片级 DFT 要求，缩短可测试性设计 (DFT) 开发时间和制造测试成本。

克服传统 DFT 方法的质量限制。利用我们的汽车级自动测试模式生成 (ATPG)，在晶体管和互连层面瞄准集成电路中的缺陷。

实现嵌入式存储器测试、修复、调试和特性分析的全面自动化和集成。

满足快速增长的汽车电子市场对集成电路的要求，满足新市场和技术的需求。

模拟模拟、混合信号和非扫描数字电路的晶体管级缺陷。通过自动覆盖范围评估满足 ISO26262 等质量标准。

Tessent产品营销总监李·哈里森在接受《电子周刊》采访时谈到了流式扫描网络（SSN）总线和下一代测试设计技术。

了解汽车网络安全和安保趋势以及出行技术安全的未来。了解西门子 EDA 如何代表生态系统中汽车公司的明智选择。

通过将小型模块直接嵌入到片上系统 (SoC)，从而确保质量、增强安全性、优化性能并提高可靠性，从而允许对设计中发生的情况进行非侵入式观察。

阅读汽车生态系统中越来越多的标准和法规如何承诺通过抵御网络攻击来节省开发成本。