用于 IC 验证和 DFM 优化的 EDA 平台

不仅设计规则检查的数量增加，而且检查类型和操作也急剧增加，这加剧了在保持准确性和精度的同时对更多、更快计算的需求。

密集的分层布局、不断增加的电路复杂性以及错综复杂的铸造规则意味着运行和调试LVS和寄生系统以确保电路的可预测性可能是一项耗时和资源密集型的工作。

从 IP 到全芯片，设计复杂性不断提高，芯片设计的各个级别都更加注重可靠性，这使得准确、全面地验证集成电路可靠性问题至关重要，但具有挑战性。

DFM 优化可以帮助设计人员平衡功率、性能和面积与可制造性，但持续应用多种优化策略通常是一项艰巨而艰巨的任务。

在整个设计流程中，设计人员必须在多个设计和验证工具之间进行管理和导航。手动调用、自定义接口代码以及缺乏一致的呈现方式会降低生产率和统一性。