Mạng quét phát trực tuyến Tessent
Tessent Streaming Scan Network đóng gói dữ liệu thử nghiệm để giảm đáng kể nỗ lực triển khai DFT và giảm chi phí thử nghiệm sản xuất. Bằng cách tách các yêu cầu DFT cấp lõi và cấp chip, mỗi lõi có thể được thiết kế với cấu hình nén tối ưu nhất cho lõi đó.
Tại sao chọn Tessent Streaming Scan Network?
Tessent Streaming Scan Network mang đến lời hứa về DFT plug-n-play phân cấp thực sự. Bằng cách tách cấu hình DFT cấp lõi khỏi tài nguyên DFT cấp chip, nỗ lực lập kế hoạch và triển khai DFT được giảm đáng kể đồng thời giảm chi phí thử nghiệm sản xuất.
Tăng tốc thời gian đưa ra thị trường
Nhận ra mức tăng năng suất gấp 10 lần bằng cách sử dụng lập kế hoạch cấp chip đơn giản. Bằng cách tách rời DFT cấp lõi và chip, nén cấp lõi có thể được tối ưu hóa mà không cần xem xét các lõi hoặc tài nguyên cấp chip khác.
Chi phí kiểm tra thấp hơn
Bằng cách kết hợp điều chỉnh băng thông tự động và tạo tín hiệu DFT cục bộ, khoảng trắng trong mẫu hầu như bị loại bỏ.
Giảm cấu hình năng lượng lên đến 90%
SSN cung cấp cấu hình công suất mượt mà hơn bằng cách sử dụng đồng hồ thay động/chụp so le và đồng thời tốt hơn. Các lõi đồng thời được thử nghiệm có thể được chọn theo chương trình thay vì trong quá trình thiết kế mà không ảnh hưởng đến định tuyến cấp chip.
SSN tăng tốc thời gian đưa ra thị trường như thế nào
Phương pháp kiểm tra quét phân cấp truyền thống có những thách thức cụ thể, có thể được cải thiện đáng kể bằng cách sử dụng cơ chế phân phối thử nghiệm được đóng gói. Tessent Streaming Scan Network (SSN) giảm nỗ lực lập kế hoạch và triển khai DFT lên đến 5 lần bằng cách sử dụng phân phối thử nghiệm đóng gói. Xem những gì Pete Orlando nói về tin tức mới nhất về Tessent SSN.
Sử dụng ứng dụng Veloce DFT để tăng nhanh chất lượng
Robert Serphillips, Giám đốc sản phẩm DFT/Fault, thảo luận về cách sử dụng ứng dụng Veloce DFT có thể nhanh chóng tăng tốc chất lượng và giảm chi phí kiểm tra.
Với công nghệ Tessent Streaming Scan Network, chúng tôi có thể cung cấp cho khách hàng một giải pháp truy cập thử nghiệm có thể mở rộng lý tưởng cho các thiết kế IC tiên tiến của ngày nay và tương lai. SSN làm giảm đáng kể nỗ lực cần thiết để làm cho các thiết kế phức tạp có khả năng kiểm tra cao.