Tiếp cận nhiều bài thuyết trình được trình bày tại Hội nghị Kiểm tra Quốc tế (ITC) bởi các nhà lãnh đạo Siemens, chuyên gia Tessent, khách hàng và đối tác. Tìm hiểu về các giải pháp hàng đầu trong ngành của chúng tôi về thiết kế thử nghiệm (DFT), kiểm tra IC, học năng suất và giám sát và phân tích trong cuộc sống.
Siemens tự hào là người ủng hộ kim cương của Hội nghị Thử nghiệm Quốc tế 2024. Bạn có thể xem các bản ghi âm của các bài thuyết trình kim cương quan trọng bên dưới.
Ankur Gupta, Phó chủ tịch cấp cao kiêm Tổng giám đốc nền tảng sáng tạo thiết kế kỹ thuật số tại Siemens EDA khai mạc Sự kiện Kim cương để nói chuyện với đám đông ITC về “Công nghệ chuyển đổi vì một tương lai bền vững”
Anurag Jindal, Giám đốc Tập đoàn DFX tại Ericsson trình bày về “Dòng chảy nhanh hơn và hiệu quả hơn được hỗ trợ bởi một nền tảng tích hợp”
Vishal Agarwal, Giám đốc cấp cao tại Nvidia nói chuyện với đám đông ITC 2024 về những thách thức thử nghiệm trong Kỷ nguyên AI
Dan Trock, Kỹ sư chính tại Amazon Web Services, trình bày về “Kiểm tra quét xác định trong đội tàu trên Đám mây AWS”
Xem các bài thuyết trình tại nhà hát Tessent là một truyền thống trên sàn triển lãm ITC, nơi khách hàng và đối tác của chúng tôi trình bày kinh nghiệm của họ với các công nghệ Tessent, quy trình tham chiếu và các dự án hợp tác. Xem các bài thuyết trình gần đây nhất từ ITC 2024 bên dưới.
Đừng bỏ lỡ cơ hội này để nhìn lại và học hỏi từ các bài thuyết trình về DFT của các chuyên gia Tessent trong những năm gần đây tại ITC.
Darshan Kobla, Giám đốc cấp cao của Microsoft dẫn đầu Chiến lược Kiểm tra trên tất cả các phân khúc sản phẩm, khuyên bạn nên giữ cho các nỗ lực DFT đơn giản và có thể dự đoán được khi thiết kế phức tạp.
Nilanjan Mukherjee, Sr. Giám đốc Kỹ thuật, Tessent, Siemens EDA, giải thích việc xác minh DFT sớm làm giảm thời gian đưa ra thị trường như thế nào.
Ankur Gupta, VP/GM, Tessent, Siemens EDA, kết thúc sự kiện ITC Diamond với một bài thuyết trình về cách Siemens EDA cho phép một tương lai thông minh hơn nhanh hơn.
Đừng bỏ lỡ cơ hội này để nhìn lại và học hỏi từ các bài thuyết trình về DFT của các chuyên gia Tessent trong những năm gần đây tại ITC.
Ankur Gupta, Phó Chủ tịch kiêm Tổng Giám đốc, Tessent, Siemens EDA, giới thiệu DFT cho giám sát trong cuộc sống cho các hệ thống điện tử tại ITC 2022.
Dan Trock, Kỹ sư chính tại Amazon Web Services, trình bày về việc giảm nỗ lực thiết kế, thời gian thử nghiệm và sức mạnh với SSN trong AWS Custom Silicon.
Janusz Rajski, Phó Chủ tịch Nghiên cứu và Phát triển, Tessent, Siemens EDA, trình bày về thử nghiệm xác định cấu trúc trong vòng đời silicon.
Vidya Neerkundar, Giám đốc sản phẩm, Tessent, Siemens EDA giới thiệu những tiến bộ trong tự động hóa DFT cho kỷ nguyên IC 2.5D/3D.
Đột phá rào cản năng suất với Siemens & PDF Solutions được giới thiệu bởi Siemens & Thomas Zanon, Giám đốc Engagement, PDF Solutions.
Đừng bỏ lỡ cơ hội này để nhìn lại và học hỏi từ các bài thuyết trình về DFT của các chuyên gia Tessent trong những năm gần đây tại ITC.
Dave Dehnert, Kỹ sư chính, Intel, thảo luận về việc triển khai SSN trên một SOC nhiều khuôn lớn.
Wu Yang, Giám đốc Chương trình Kỹ thuật & Đúc cho Tessent tại Siemens EDA, trình bày quan điểm EDA về thử nghiệm IC 3D, bao gồm IEEE 1838 và phương pháp kiểm tra ngăn xếp 3D.
Janusz Rajski, Phó Chủ tịch Nghiên cứu và Phát triển của Tessent tại Siemens EDA, trình bày công trình về hiện trạng công nghệ nén mẫu hiện tại.
Lee Harrison, Giám đốc Giải pháp Kiểm tra Ô tô của Tessent tại Siemens EDA, khám phá các vấn đề về thách thức bảo mật trong thử nghiệm IC.
Lee Harrison, Giám đốc Giải pháp Kiểm tra Ô tô của Tessent tại Siemens EDA, thảo luận về việc sử dụng các công cụ của Quản lý vòng đời Silicon (SLM) để theo dõi các tác động lão hóa đối với thiết bị điện tử ô tô.
Srinu Alampally, Kỹ sư bậc thầy tại Broadcom, trình bày thử nghiệm nâng cao trên các thiết kế 3GHz với SSN.
Các giải pháp Plug & Play DFT cho điện toán hiệu suất cao (HPC) /AI được trình bày thay mặt cho Dongkwan Han từ Samsung Foundry.
