
Calibre EUV
Hỗ trợ toàn diện giải quyết những thách thức độc đáo của EUV có hàm lượng Na cao như quang học dị hình và mô hình 3D mặt nạ để tính đến các hiệu ứng tạo bóng.
Nhu cầu vô độ đối với các mạch tích hợp (IC) tiếp tục thúc đẩy các kích thước quan trọng nhỏ hơn. Các quá trình quang học, bao gồm cả tia cực tím cực đoan (EUV), thể hiện sự phức tạp và khối lượng dữ liệu hơn bao giờ hết. Các giải pháp in thạch bản tính toán của chúng tôi cho phép hỗ trợ công nghệ hiệu quả về chi phí.
Cả những thách thức về in thạch bản và độ phức tạp tính toán liên quan đến các nút quy trình tiên tiến đều tạo ra nhu cầu về các khả năng nâng cao trong phần mềm và phần cứng in thạch bản tính toán. Giải pháp Calibre cung cấp độ chính xác, tốc độ và chi phí sở hữu tốt nhất trong phân khúc.

Độ gần quang học dày đặc và hiệu chỉnh quy trình để cho phép sản xuất submicron sâu.
Chèn các tính năng hỗ trợ độ phân giải phụ (SRAF) vào thiết kế.
Mô phỏng toàn chip mạnh mẽ và phân tích in thạch bản.

GUI được sử dụng để khởi chạy một loạt các ứng dụng và để xem kết quả.

Công cụ hiệu chuẩn có khả năng mở rộng cao cho các mô hình quang học, kháng cự và khắc.
Hiệu chỉnh độ tiệm cận quang học dựa trên pixel nhanh, nghịch đảo.
GUI dễ sử dụng để tối ưu hóa nguồn chiếu sáng.