Чому мережа потокового сканування Tessent?
Мережа потокового сканування Tessent забезпечує обіцянку справжнього ієрархічного DFT плагіна-відтворення. Від'єднавши конфігурацію DFT на рівні ядра від ресурсів DFT на рівні мікросхеми, зусилля з планування та впровадження DFT значно зменшуються, одночасно зменшуючи витрати на тестування виробництва.
Прискорення часу виходу на ринок
Реалізуйте 10-кратний приріст продуктивності за допомогою спрощеного планування на рівні чіпа. Роз'єднуючи DFT на рівні ядра та мікросхеми, стиснення на рівні ядра можна оптимізувати без урахування інших ядер або ресурсів на рівні чіпа.
Зниження витрат на тестування
Поєднуючи автоматичну настройку пропускної здатності та локальну генерацію сигналів DFT, пробіли в шаблоні практично усуваються.
Зменшити профіль потужності до 90%
SSN забезпечує більш плавний профіль потужності, використовуючи годинники зміщення/захоплення в шаховому порядку та кращу паралельність. Одночасні ядра, які підлягають тестуванню, можуть бути обрані програмно, а не під час проектування, не впливаючи на маршрутизацію на рівні мікросхеми.
Як SSN прискорює час виходу на ринок
Традиційний ієрархічний підхід до тестування сканування має специфічні проблеми, які можна різко покращити за допомогою пакетованого механізму доставки тестів. Tessent Streaming Scan Network (SSN) зменшує витрати на планування та впровадження DFT до 5 разів за допомогою пакетованої доставки тестів. Подивіться, що Піт Орландо має сказати про останні новини про Tessent SSN.
Використання програми Veloce DFT для швидкого прискорення якості
Роберт Серфілліпс, менеджер продуктів DFT/Fault, обговорює, як використання програми Veloce DFT може швидко прискорити якість та знизити витрати на тестування.
Завдяки технології Tessent Streaming Scan Network ми можемо запропонувати нашим клієнтам масштабоване рішення тестового доступу, ідеальне для сучасних та майбутніх сучасних конструкцій мікросхем. SSN значно зменшує зусилля, необхідні для того, щоб зробити складні конструкції високо перевіреними.

