
Calibre EUV
Комплексна підтримка вирішення унікальних проблем EUV з високим вмістом НК, таких як анаморфна оптика та 3D-моделювання маски для врахування ефектів затінення.
Ненаситний попит на інтегральні схеми (ІС) продовжує стимулювати менші критичні розміри. Процеси фотолітографії, включаючи екстремальний ультрафіолет (EUV), представляють все більшу складність та обсяг даних. Наші рішення для обчислювальної літографії забезпечують економічно ефективну технологію.
літографічні проблеми, так і обчислювальна складність, пов'язана з передовими технологічними вузлами, створюють потребу в розширених можливостях у програмному та апаратному забезпеченні обчислювальної літографії. Рішення Calibre забезпечує найкращу у своєму класі точність, швидкість та вартість володіння.

Щільна оптична близькість та корекція процесу для забезпечення глибокого субмікронного виробництва.
Вставляє допоміжні функції роздільної здатності (SRAF) у дизайн.
Потужне повночіпове моделювання та літографічний аналіз.

Графічний інтерфейс використовується для запуску найрізноманітніших додатків і для перегляду результатів.

Високомасштабований калібрувальний двигун для оптичних моделей, моделей опору та травлення.
Швидка, обернена піксельна оптична корекція наближення.
Простий у використанні графічний інтерфейс для оптимізації джерела освітлення.