Tessent
all
Diagnos
Använd layout-medvetna och cellmedvetna diagnostekniker för att korrekt klassificera och identifiera platsen för defekter som orsakar fel under tillverkningstester.
Tessent Yield Learning
Minska tiden till avkastning, hantera tillverkningsavvikelser och återvinna avkastning orsakad av systematiska defekter. Genom att förstå hur man hanterar och optimerar test- och datainsamlingsmiljön kan utbytesinlärningslösningar ställas in för att identifiera systematiska defekter som orsakar låg avkastning, vilket sparar tid.
Minska komplexiteten med Tessent Yield Learning-lösningar
Med ökande komplexitet utvecklar Tessent Yield Learning verktyg för att minska komplexiteten utan att kompromissa med kvalitet eller lönsamhet. Vi hjälper kunder att anpassa sig till föränderliga miljöer samtidigt som vi minskar tiden till marknaden och minskar kostnaderna.
Utforska tekniker
Läs mer
Vitbok
all
Förbättra genomströmningen för volymskanning 10X
Vi introducerar en ny teknik för att maximera diagnosgenomströmningen. Den dynamiska partitioneringstekniken i Tessent Diagnosis möjliggör en 50% minskning av skanningstiden med endast 20% av det typiska minnet.
