Tessent Streaming Scan-nätverk
Tessent Streaming Scan Network paketerar testdata för att dramatiskt minska DFT-implementeringsinsatsen och minska tillverkningstestkostnaderna. Genom att koppla bort DFT-krav på kärnnivå och chip-nivå kan varje kärna utformas med den mest optimala komprimeringskonfigurationen för den kärnan.
Varför Tessent Streaming Scan Network?
Tessent Streaming Scan Network levererar löftet om äkta hierarkisk plug-n-play DFT. Genom att koppla bort DFT-konfiguration på kärnnivå från DFT-resurser på chipnivå minskar DFT-planerings- och implementeringsinsatserna dramatiskt samtidigt som tillverkningstestkostnaderna minskas.
Snabba upp tiden till marknaden
Förverkliga en produktivitetsökning på 10 gånger med förenklad planering på chip-nivå. Genom att koppla bort DFT på kärn- och chip-nivå kan komprimering på kärnnivå optimeras utan att överväga andra kärnor eller resurser på chip-nivå.
Lägre testkostnader
Genom att kombinera automatisk bandbreddsinställning och lokal generering av DFT-signaler elimineras blanksteg i mönstret praktiskt taget.
Minska effektprofilen med upp till 90%
SSN ger en jämnare effektprofil med förskjutna skift/fångstklockor och bättre samtidighet. Samtidiga kärnor som ska testas kan väljas programmatiskt snarare än under design utan att påverka routing på chip-nivå.
Hur SSN påskyndar tiden till marknaden
En traditionell hierarkisk skanningstestmetod har specifika utmaningar, som kan förbättras drastiskt med hjälp av en paketerad testleveransmekanism. Tessent Streaming Scan Network (SSN) minskar DFT-planerings- och implementeringsinsatserna upp till 5x med paketerad testleverans. Se vad Pete Orlando har att säga om de senaste nyheterna om Tessent SSN.
Framtiden för Packetized Test
Eftersom paketerad leverans av testdata blir branschstandarden för komplexa digitala halvledarkonstruktioner förklarar Geir Eide, Senior Director, Product Management, varför ledande halvledarföretag har antagit Tessent SSN för att förbättra produktiviteten vid implementering av DFT och tillverkningstesttid.
Användare uppnår upp till 10 x vinst i DFT-implementering och produktivitet och upp till 5 gånger minskning av testtiden.
Med Tessent Streaming Scan Network-teknik kan vi erbjuda våra kunder en skalbar teståtkomstlösning som är idealisk för dagens och morgondagens avancerade IC-design. SSN minskar avsevärt den ansträngning som krävs för att göra komplexa konstruktioner mycket testbara.