Tessent Streaming Scan-nätverk
Tessent Streaming Scan Network paketerar testdata för att dramatiskt minska DFT-implementeringsinsatsen och minska tillverkningstestkostnaderna. Genom att koppla bort DFT-krav på kärnnivå och chip-nivå kan varje kärna utformas med den mest optimala komprimeringskonfigurationen för den kärnan.
Varför Tessent Streaming Scan Network?
Tessent Streaming Scan Network levererar löftet om äkta hierarkisk plug-n-play DFT. Genom att koppla bort DFT-konfiguration på kärnnivå från DFT-resurser på chipnivå minskar DFT-planerings- och implementeringsinsatserna dramatiskt samtidigt som tillverkningstestkostnaderna minskas.
Snabba upp tiden till marknaden
Förverkliga en produktivitetsökning på 10 gånger med förenklad planering på chip-nivå. Genom att koppla bort DFT på kärn- och chip-nivå kan komprimering på kärnnivå optimeras utan att överväga andra kärnor eller resurser på chip-nivå.
Lägre testkostnader
Genom att kombinera automatisk bandbreddsinställning och lokal generering av DFT-signaler elimineras blanksteg i mönstret praktiskt taget.
Minska effektprofilen med upp till 90%
SSN ger en jämnare effektprofil med förskjutna skift/fångstklockor och bättre samtidighet. Samtidiga kärnor som ska testas kan väljas programmatiskt snarare än under design utan att påverka routing på chip-nivå.
Hur SSN påskyndar tiden till marknaden
En traditionell hierarkisk skanningstestmetod har specifika utmaningar, som kan förbättras drastiskt med hjälp av en paketerad testleveransmekanism. Tessent Streaming Scan Network (SSN) minskar DFT-planerings- och implementeringsinsatserna upp till 5x med paketerad testleverans. Se vad Pete Orlando har att säga om de senaste nyheterna om Tessent SSN.
Använda Veloce DFT-appen för att snabbt öka kvaliteten
Robert Serphillips, DFT/Fault Product Manager, diskuterar hur Veloce DFT-appen snabbt kan påskynda kvaliteten och sänka testkostnaderna.
Med Tessent Streaming Scan Network-teknik kan vi erbjuda våra kunder en skalbar teståtkomstlösning som är idealisk för dagens och morgondagens avancerade IC-design. SSN minskar avsevärt den ansträngning som krävs för att göra komplexa konstruktioner mycket testbara.