
Calibre EUV
Omfattande stöd för att ta itu med de unika utmaningarna med EUV med hög NA, såsom anamorf optik och maskera 3D-modellering för att ta hänsyn till skuggningseffekter.
Den omättliga efterfrågan på integrerade kretsar (IC) fortsätter att driva mindre kritiska dimensioner. Fotolitografiprocesser, inklusive extrem ultraviolett (EUV), presenterar allt mer komplexitet och datavolym. Våra beräkningslitografilösningar möjliggör kostnadseffektiv teknikaktivering.
Både de litografiska utmaningarna och den beräkningskomplexitet som är förknippad med avancerade processnoder skapar ett behov av avancerade funktioner inom programvara och hårdvara för beräkningslitografi. Calibre-lösningen erbjuder klassens bästa noggrannhet, hastighet och ägandekostnad.

Tät optisk närhet och processkorrigering för att möjliggöra djup submikrontillverkning.
Infogar underupplösningsassistentfunktioner (SRAF) i en design.
Kraftfull simulering med full chip och litografisk analys.

GUI används för att starta en mängd olika applikationer och för att visa resultat.

Mycket skalbar kalibreringsmotor för optiska modeller, motstånd och etsmodeller.
Snabb, invers pixelbaserad optisk närhetskorrigering.
Lätt att använda GUI för optimering av belysningskälla.