När chipdesignen blir allt större och mer komplex kämpar traditionella DRC-felsökningsmetoder för att hålla jämna steg. Standardmetoder, som förlitar sig på ASCII-resultatdatabaser, kan ofta inte effektivt hantera de enorma volymerna av fel som produceras i avancerade nod- eller SoC-konstruktioner i tidigt skede. Detta leder till långsam laddning, ofullständig diagnos och utökade tidslinjer för felsökning, eftersom ingenjörer manuellt måste söka igenom opraktiskt stora feluppsättningar och saknar den vägledning och synlighet som behövs för att snabbt identifiera de mest kritiska grundorsakerna.
Programvaran Calibre Vision AI från Siemens EDA levererar en transformativ lösning för modern DRC-felsökning på chipnivå. Genom att utnyttja det mycket effektiva OASIS-resultatformatet och avancerad AI-driven signalanalys gör Calibre Vision AI det möjligt för team att ladda och analysera miljarder DRC-överträdelser på några sekunder, intelligent gruppera relaterade fel och intuitivt prioritera felsökningsinsatser. Förbättrade visualiserings-, navigerings- och samarbetsverktyg hjälper designers att exakt identifiera och lösa överträdelser över hela chipet, vilket dramatiskt påskyndar fysiska verifieringscykler för även de mest invecklade konstruktionerna.
