Tessent Streaming Scan Network
Tessent Streaming Scan Network paketizira testne podatke, da dramatično zmanjša napore pri izvajanju DFT in zmanjša stroške proizvodnih testov. Z ločenjem zahtev DFT na ravni jedra in čipa je mogoče vsako jedro oblikovati z najbolj optimalno konfiguracijo stiskanja za to jedro.
Zakaj Tessent Streaming Scan Network?
Tessent Streaming Scan Network prinaša obljubo resničnega hierarhičnega DFT plug-n-play. Z ločenjem konfiguracije DFT na ravni jedra od virov DFT na ravni čipa se prizadevanja za načrtovanje in izvajanje DFT dramatično zmanjšajo, hkrati pa zmanjšajo stroške proizvodnih testov.
Pospešite čas prihoda na trg
S poenostavljenim načrtovanjem na ravni čipov dosežite 10-kratno povečanje produktivnosti. Z ločenjem DFT na ravni jedra in čipa je mogoče optimizirati stiskanje na ravni jedra, ne da bi upoštevali druga jedra ali vire na ravni čipa.
Nižji stroški preizkusa
S kombiniranjem samodejnega nastavljanja pasovne širine in lokalnega generiranja signalov DFT je prostor v vzorcu praktično odpravljen.
Zmanjšajte profil moči do 90%
SSN zagotavlja bolj gladek profil moči z uporabo razporejenih ur za premikanje/zajem in boljšo sočasnost. Hkratna jedra, ki jih je treba preizkusiti, je mogoče izbrati programsko in ne med načrtovanjem, ne da bi to vplivalo na usmerjanje na ravni čipa.
Kako SSN pospešuje čas za trženje
Tradicionalni hierarhični preizkusni pristop skeniranja ima posebne izzive, ki jih je mogoče drastično izboljšati s paketnim mehanizmom izvajanja testov. Tessent Streaming Scan Network (SSN) zmanjša napore za načrtovanje in izvajanje DFT do 5-krat z uporabo paketizirane izvedbe testov. Oglejte si, kaj ima Pete Orlando povedal o najnovejših novicah na Tessent SSN.
Uporaba aplikacije Veloce DFT za hitro pospeševanje kakovosti
Robert Serphillips, vodja izdelkov DFT/Fault, razpravlja o tem, kako lahko uporaba aplikacije Veloce DFT hitro pospeši kakovost in zniža stroške testiranja.
S tehnologijo Tessent Streaming Scan Network lahko svojim strankam ponudimo razširljivo rešitev za testni dostop, idealno za današnje in jutrišnje napredne zasnove IC. SSN bistveno zmanjša napor, potreben za visoko testiranje kompleksnih modelov.