
Calibre EUV
Celovita podpora za reševanje edinstvenih izzivov EUV z visoko vsebnostjo RNA, kot sta anamorfna optika in 3D modeliranje mask za upoštevanje učinkov senčenja.
Nenasitno povpraševanje po integriranih vezjih (IC) še naprej povzroča manjše kritične dimenzije. Postopki fotolitografije, vključno z ekstremno ultravijoličnimi žarki (EUV), predstavljajo vedno večjo zapletenost in obseg podatkov. Naše računalniške litografske rešitve omogočajo stroškovno učinkovito omogočanje tehnologije.
Tako litografski izzivi kot računalniška zapletenost, povezana z naprednimi procesnimi vozlišči, ustvarjata potrebo po naprednih zmogljivostih v programski in strojni opremi za računalniško litografijo. Rešitev Calibre ponuja najboljšo natančnost, hitrost in stroške lastništva v svojem razredu.

Gosta optična bližina in korekcija procesa za omogočanje globoke submikronske proizvodnje.
V zasnovo vstavi funkcije za pomoč pri podločljivosti (SRAF).
Zmogljiva simulacija s polnim čipom in litografska analiza.

GUI se uporablja za zagon najrazličnejših aplikacij in ogled rezultatov.

Visoko razširljiv kalibracijski motor za optične, odporne in jedkane modele.
Hitra, inverzna korekcija optične bližine na osnovi slikovnih pik.
Preprost uporabniški GUI za optimizacijo vira osvetlitve.