Sieť Tessent Streaming Scan
Sieť Tessent Streaming Scan Network paketizuje testovacie údaje, aby dramaticky znížila úsilie o implementáciu DFT a znížila náklady na výrobné testy. Oddelením požiadaviek na DFT na úrovni jadra a čipu môže byť každé jadro navrhnuté s najoptimálnejšou konfiguráciou kompresie pre dané jadro.
Prečo práve Tessent Streaming Scan Network?
Sieť Tessent Streaming Scan Network prináša prísľub skutočného hierarchického DFT plug-n-play. Oddelením konfigurácie DFT na úrovni jadra od zdrojov DFT na úrovni čipu sa dramaticky znižuje úsilie o plánovanie a implementáciu DFT a súčasne znižujú náklady na výrobné testy.
Urýchlite čas uvedenia na trh
Získajte 10-násobný nárast produktivity pomocou zjednodušeného plánovania na úrovni čipov. Oddelením DFT na úrovni jadra a čipu je možné optimalizovať kompresiu na úrovni jadra bez zohľadnenia iných jadier alebo zdrojov na úrovni čipu.
Nižšie náklady na testovanie
Kombináciou automatického ladenia šírky pásma a lokálnej generácie signálov DFT sú biele medzery vo vzore prakticky eliminované.
Znížte výkonový profil až o 90%
SSN poskytuje plynulejší profil výkonu pomocou stupňového posunu/snímania hodín a lepšej súbežnosti. Súbežné jadrá, ktoré sa majú testovať, je možné vyberať programovo, a nie počas návrhu bez toho, aby to ovplyvnilo smerovanie na úrovni čipu.
Ako SSN urýchľuje čas uvedenia na trh
Tradičný prístup k hierarchickému testu skenovania má špecifické výzvy, ktoré je možné drasticky vylepšiť pomocou paketizovaného mechanizmu poskytovania testov. Tessent Streaming Scan Network (SSN) znižuje úsilie o plánovanie a implementáciu DFT až 5x pomocou balíkového doručenia testov. Pozrite sa, čo hovorí Pete Orlando o najnovších správach na Tessent SSN.
Používanie aplikácie Veloce DFT na rýchle urýchlenie kvality
Robert Serphillips, produktový manažér DFT/Fault, diskutuje o tom, ako môže používanie aplikácie Veloce DFT rýchlo urýchliť kvalitu a znížiť náklady na testovanie.
S technológiou Tessent Streaming Scan Network sme schopní ponúknuť našim zákazníkom škálovateľné riešenie testovacieho prístupu ideálne pre dnešné a zajtrajšie pokročilé návrhy IC. SSN výrazne znižuje úsilie potrebné na to, aby boli komplexné návrhy vysoko testovateľné.