Prečo práve Tessent Streaming Scan Network?
Sieť Tessent Streaming Scan Network prináša prísľub skutočného hierarchického DFT plug-n-play. Oddelením konfigurácie DFT na úrovni jadra od zdrojov DFT na úrovni čipu sa dramaticky znižuje úsilie o plánovanie a implementáciu DFT a súčasne znižujú náklady na výrobné testy.
Urýchlite uvedenie na trh
Získajte 10-násobný nárast produktivity pomocou zjednodušeného plánovania na úrovni čipov. Oddelením DFT na úrovni jadra a čipu je možné optimalizovať kompresiu na úrovni jadra bez zohľadnenia iných jadier alebo zdrojov na úrovni čipu.
Nižšie náklady na testovanie
Kombináciou automatického ladenia šírky pásma a lokálnej generácie signálov DFT sú biele medzery vo vzore prakticky eliminované.
Znížte výkonový profil až o 90%
SSN poskytuje plynulejší profil výkonu pomocou stupňového posunu/snímania hodín a lepšej súbežnosti. Súbežné jadrá, ktoré sa majú testovať, je možné vyberať programovo, a nie počas návrhu bez toho, aby to ovplyvnilo smerovanie na úrovni čipu.
Ako SSN urýchľuje čas uvedenia na trh
Tradičný prístup k hierarchickému testu skenovania má špecifické výzvy, ktoré je možné drasticky vylepšiť pomocou paketizovaného mechanizmu poskytovania testov. Tessent Streaming Scan Network (SSN) znižuje úsilie o plánovanie a implementáciu DFT až 5x pomocou balíkového doručenia testov. Pozrite sa, čo hovorí Pete Orlando o najnovších správach na Tessent SSN.
Budúcnosť Packetized Test
Keďže balené doručovanie testovacích údajov sa stalo priemyselným štandardom pre komplexné návrhy digitálnych polovodičov, Geir Eide, senior riaditeľ pre produktový manažment, vysvetľuje, prečo popredné polovodičové spoločnosti prijali Tessent SSN na zlepšenie produktivity implementácie DFT a času výroby testov.
Používatelia dosahujú až 10-násobný zisk v implementácii a produktivite DFT a až 5-násobné zníženie času testovania.
S technológiou Tessent Streaming Scan Network sme schopní ponúknuť našim zákazníkom škálovateľné riešenie testovacieho prístupu ideálne pre dnešné a zajtrajšie pokročilé návrhy IC. SSN výrazne znižuje úsilie potrebné na to, aby boli komplexné návrhy vysoko testovateľné.

