Získajte prístup k širokej škále prezentácií prednesených na Medzinárodnej testovacej konferencii (ITC) vedúcich predstaviteľov spoločnosti Siemens, expertov spoločnosti Tessent, zákazníkov a partnerov. Získajte informácie o našich špičkových riešeniach v odvetví pre návrh pre test (DFT), IC test, vzdelávanie výnosov a monitorovanie a analýzu v živote.
Spoločnosť Siemens je hrdá na to, že je diamantovým zástancom Medzinárodnej skúšobnej konferencie 2024. Nahrávky kľúčových diamantových prezentácií si môžete pozrieť nižšie.
Ankur Gupta, senior viceprezident a generálny riaditeľ platformy na tvorbu digitálneho dizajnu v Siemens EDA otvára Diamond Event, aby hovoril s davom ITC na tému „Transformačné technológie pre udržateľnú budúcnosť“
Anurag Jindal, vedúci skupiny DFX Group v Ericsson prezentuje „Rýchlejší a efektívnejší tok umožnený integrovanou platformou“
Vishal Agarwal, senior riaditeľ spoločnosti Nvidia, hovorí s davom ITC 2024 o testovacích výzvach v ére AI
Dan Trock, hlavný inžinier spoločnosti Amazon Web Services, predstavuje „Deterministický test skenovania vo flotile v AWS Cloud“
Sledovanie prezentácií v divadle Tessent je tradíciou na výstavnej pôde ITC, kde naši zákazníci a partneri prezentujú svoje skúsenosti s technológiami Tessent, referenčnými tokmi a projektmi spolupráce. Pozrite si najnovšie prezentácie z ITC 2024 nižšie.
Nenechajte si ujsť túto príležitosť pozrieť sa späť a poučiť sa od prezentácií DFT expertov Tessent v posledných rokoch na ITC.
Darshan Kobla, senior riaditeľ spoločnosti Microsoft vedúcej testovacej stratégie vo všetkých segmentoch produktov, odporúča, aby úsilie DFT bolo jednoduché a predvídateľné, keď sú návrhy zložité.
Nilanjan Mukherjee, starší riaditeľ inžinierstva, Tessent, Siemens EDA, vysvetľuje, ako skoré overenie DFT skracuje čas uvedenia na trh.
Ankur Gupta, VP/GM, Tessent, Siemens EDA, uzatvára podujatie ITC Diamond prezentáciou o tom, ako Siemens EDA umožňuje rýchlejšiu inteligentnejšiu budúcnosť.
Nenechajte si ujsť túto príležitosť pozrieť sa späť a poučiť sa od prezentácií DFT expertov Tessent v posledných rokoch na ITC.
Ankur Gupta, viceprezident a GM, Tessent, Siemens EDA, predstavuje DFT do monitorovania elektronických systémov In-Life na ITC 2022.
Dan Trock, hlavný inžinier spoločnosti Amazon Web Services, predstavuje zníženie návrhového úsilia, času testovania a výkonu pomocou SSN v AWS Custom Silicon.
Janusz Rajski, viceprezident pre výskum a vývoj, Tessent, Siemens EDA, prezentuje štrukturálne deterministické testy v životnom cykle kremíka.
Vidya Neerkundar, produktová manažérka, Tessent, Siemens EDA predstavuje pokroky v automatizácii DFT pre éru 2.5D/3D IC.
Prelomové bariéry výnosov so spoločnosťami Siemens & PDF Solutions predstavili Siemens a Thomas Zanon, riaditeľ angažovanosti v PDF Solutions.
Nenechajte si ujsť túto príležitosť pozrieť sa späť a poučiť sa od prezentácií DFT expertov Tessent v posledných rokoch na ITC.
Dave Dehnert, hlavný inžinier spoločnosti Intel, diskutuje o implementácii SSN na veľkom viacvrstvovom SOC.
Wu Yang, manažér technických a zlievarenských programov pre Tessent v Siemens EDA, predstavuje pohľad EDA na 3D IC test vrátane IEEE 1838 a metodiky testovania 3D stohov.
Janusz Rajski, viceprezident pre výskum a vývoj pre Tessent v Siemens EDA, predstavuje prácu o súčasnom stave technológie zhutňovania vzorov.
Lee Harrison, manažér automobilových testov pre Tessent v Siemens EDA, skúma problémy bezpečnostných výziev v testovaní IC.
Lee Harrison, manažér automobilových testov pre Tessent v Siemens EDA, diskutuje o použití nástrojov Silicon Lifecycle Management (SLM) na monitorovanie účinkov starnutia na automobilovú elektroniku.
Srinu Alampally, hlavný inžinier spoločnosti Broadcom, predstavuje vylepšený test na dizajnoch 3 GHz pomocou SSN.
Plug & Play DFT riešenia pre vysokovýkonnú výpočtovú techniku (HPC) /AI predstavené v mene spoločnosti Dongkwan Han od spoločnosti Samsung Foundry.
