
Calibre EUV
Komplexná podpora riešenia jedinečných výziev EUV s vysokým obsahom NA, ako je anamorfická optika a 3D modelovanie masiek, aby sa zohľadnili efekty tieňovania.
Neuspokojivý dopyt po integrovaných obvodoch (IO) naďalej riadi menšie kritické rozmery. Fotolitografické procesy vrátane extrémneho ultrafialového žiarenia (EUV) predstavujú čoraz väčšiu zložitosť a objem údajov. Naše výpočtové litografické riešenia umožňujú nákladovo efektívnu technológiu.
Litografické výzvy aj výpočtová zložitosť spojená s pokročilými procesnými uzlami vytvárajú potrebu pokročilých schopností v softvéri a hardvéri výpočtovej litografie. Riešenie Calibre ponúka najlepšiu presnosť, rýchlosť a náklady na vlastníctvo vo svojej triede.

Hustá optická blízkosť a korekcia procesu umožňujúca výrobu hlbokých submikrónov.
Vkladá funkcie pomocného rozlíšenia (SRAF) do návrhu.
Výkonná simulácia s plným čipom a litografická analýza.

GUI sa používa na spustenie širokej škály aplikácií a na zobrazenie výsledkov.

Vysoko škálovateľný kalibračný motor pre optické, odolné a leptané modely.
Rýchla korekcia optickej vzdialenosti založená na inverzných pixeloch.
Jednoduché použitie GUI pre optimalizáciu zdroja osvetlenia.