Skip to main content
Эта страница переведена автоматически. Перейти к английской версии?
Человек стоит перед большим экраном, на котором отображается график с красной линией.
Tessent Yield Learning

Tessent YieldInsight

Tessent YieldInsight статистически анализирует диагностические данные для выявления и разделения систематических ограничителей производительности до проведения анализа отказов. Tessent YieldInsight специализируется на изучении и выявлении потерь урожайности на основе данных сканирующих тестов и позволяет применять результаты объемной диагностики.

Зачем отправлять YieldInsight?

Используя специализированные методы интеллектуального анализа данных и статистического анализа, Tessent YieldInsight устраняет шум в диагностических данных, чтобы определить основные причины, выявить систематические ограничители производительности и выбрать лучшие устройства для анализа отказов.

Определите скрытые ограничители доходности

Tessent YieldInsight определяет причину систематического снижения урожайности и предоставляет рекомендации по выбору матрицы для анализа отказов.

Удалить шум из результатов диагностики

Технология деконволюции первопричин (RCD) устраняет шум в результатах диагностики и определяет основные первопричины. Он отбирает и фильтрует популяции неудачных штампов и группирует штампы, вышедшие из строя по аналогичным причинам.

Работает с программой Tessent DiagNOSIS

Анализирует результаты диагностики Tessent Diagnosis с учетом компоновки и ячеек для выявления и разделения систематических ограничителей производительности до проведения анализа неисправностей, что устраняет необходимость дорогостоящей физической локализации.

Веб-семинар

Новая технология реверсивной цепи сканирования

Этот совместный вебинар Siemens EDA и Qualcomm, организованный компанией ASM International, посвящен следующим темам:

  • Мотивация использования цепной диагностики при определении урожайности
  • Обзор цепной диагностики, обратимая цепь
  • Технология и диагностика реверсивных цепей
  • Внедрение реверсивных цепей
  • Получение кремния с помощью тестового чипа
 Крупный план микросхемы процессора на печатной плате с синим фоном.

Узнайте больше