Согласие
all
Анализ кремния
Ускорьте запуск тестов, отладку и определение характеристик микросхем устройств, содержащих тестовые структуры Tessent ATPG, EDT, BIST и/или IJTAG, в автоматизированной интерактивной среде.
Tessent Yield Learning
Сократите время производства, управляйте производственными перерывами и восстановите урожай, вызванный систематическими дефектами. Понимая, как управлять средой тестирования и сбора данных и оптимизировать ее, можно настроить решения Yield Learning для выявления систематических дефектов, приводящих к снижению производительности, и экономии времени.
Уменьшите сложность с помощью решений Tessent Yield Learning
В условиях растущей сложности компания Tessent Yield Learning разрабатывает инструменты для снижения сложности без ущерба для качества и прибыльности. Мы помогаем клиентам адаптироваться к меняющимся условиям, а также сокращаем время вывода продукции на рынок и снижаем затраты.
Изучите технологии
Узнайте больше
Информационный документ
all
Повышение производительности при объемном сканировании и диагностике в 10 раз
Представляем новую технологию, позволяющую максимально увеличить пропускную способность диагностики. Технология динамического разбиения на разделы в Tessent Diagnosis позволяет сократить время диагностики сканирования на 50%, используя только 20% обычной памяти.
