Почему сеть потокового сканирования Tessent?
Сеть потокового сканирования Tessent обещает создать настоящий иерархический DFT по принципу «подключи и работай». Благодаря отделению конфигурации DFT на уровне ядра от ресурсов DFT на уровне микросхемы значительно сокращаются усилия по планированию и внедрению DFT при одновременном снижении затрат на производственные испытания.
Ускорьте выход на рынок
Увеличьте производительность в 10 раз, используя упрощенное планирование на уровне микросхем. Разделение DFT на уровне ядра и чипа позволяет оптимизировать сжатие на уровне ядра без учета других ядер или ресурсов на уровне чипа.
Снижение затрат на тестирование
Благодаря сочетанию автоматической настройки полосы пропускания и локальной генерации сигналов DFT пробелы в шаблоне практически устраняются.
Уменьшите профиль мощности до 90%
SSN обеспечивает более плавный профиль питания за счет использования ступенчатого переключения и захвата и улучшения параллелизма. Параллельные ядра, подлежащие тестированию, можно выбирать программно, а не во время проектирования, без влияния на маршрутизацию на уровне микросхемы.
Как SSN ускоряет выход на рынок
Традиционный иерархический подход к тестированию на основе сканирования сопряжен со специфическими проблемами, которые можно значительно улучшить с помощью механизма пакетной доставки тестов. Tessent Streaming Scan Network (SSN) Tessent (SSN) сокращает затраты на планирование и внедрение DFT до 5 раз за счет пакетной доставки тестов. Узнайте, что Пит Орландо говорит о последних новостях на Tessent SSN.
Использование приложения Veloce DFT для быстрого повышения качества
Роберт Серфиллипс, менеджер по продуктам DFT/Fault, рассказывает о том, как использование приложения Veloce DFT может быстро повысить качество и снизить затраты на тестирование.
Благодаря технологии Tessent Streaming Scan Network мы можем предложить нашим клиентам масштабируемое решение тестового доступа, идеально подходящее для современных и будущих передовых проектов микросхем. SSN значительно сокращает усилия, необходимые для обеспечения высокой тестируемости сложных конструкций.

