Сеть потокового сканирования Tessent
Сеть Tessent Streaming Scan Network упаковывает тестовые данные, что значительно сокращает трудозатраты на внедрение DFT и снижает стоимость производственного тестирования. Разделение требований к DFT на уровне ядра и чипа позволяет спроектировать каждое ядро с наиболее оптимальной конфигурацией сжатия для этого ядра.
Почему сеть потокового сканирования Tessent?
Сеть потокового сканирования Tessent обещает создать настоящий иерархический DFT по принципу «подключи и работай». Благодаря отделению конфигурации DFT на уровне ядра от ресурсов DFT на уровне микросхемы значительно сокращаются усилия по планированию и внедрению DFT при одновременном снижении затрат на производственные испытания.
Ускорьте выход на рынок
Увеличьте производительность в 10 раз, используя упрощенное планирование на уровне микросхем. Разделение DFT на уровне ядра и чипа позволяет оптимизировать сжатие на уровне ядра без учета других ядер или ресурсов на уровне чипа.
Снижение затрат на тестирование
Благодаря сочетанию автоматической настройки полосы пропускания и локальной генерации сигналов DFT пробелы в шаблоне практически устраняются.
Уменьшите профиль мощности до 90%
SSN обеспечивает более плавный профиль питания за счет использования ступенчатого переключения и захвата и улучшения параллелизма. Параллельные ядра, подлежащие тестированию, можно выбирать программно, а не во время проектирования, без влияния на маршрутизацию на уровне микросхемы.
Как SSN ускоряет выход на рынок
Традиционный иерархический подход к тестированию на основе сканирования сопряжен со специфическими проблемами, которые можно значительно улучшить с помощью механизма пакетной доставки тестов. Tessent Streaming Scan Network (SSN) Tessent (SSN) сокращает затраты на планирование и внедрение DFT до 5 раз за счет пакетной доставки тестов. Узнайте, что Пит Орландо говорит о последних новостях на Tessent SSN.
Будущее пакетного тестирования
Поскольку пакетная доставка тестовых данных становится отраслевым стандартом для сложных цифровых полупроводниковых конструкций, Гейр Эйде, старший директор по управлению продуктами, объясняет, почему ведущие полупроводниковые компании внедрили Tessent SSN для повышения производительности внедрения DFT и времени производственных испытаний.
Пользователи достигают 10-кратного увеличения внедрения и производительности DFT и сокращения времени тестирования до 5 раз.
Благодаря технологии Tessent Streaming Scan Network мы можем предложить нашим клиентам масштабируемое решение тестового доступа, идеально подходящее для современных и будущих передовых проектов микросхем. SSN значительно сокращает усилия, необходимые для обеспечения высокой тестируемости сложных конструкций.