
Calibre EUV
Комплексная поддержка в решении уникальных проблем EUV с высоким содержанием NA, таких как анаморфическая оптика и 3D-моделирование масок с учетом эффектов затенения.
Ненасытный спрос на интегральные схемы (ИС) продолжает приводить к уменьшению критических размеров. Процессы фотолитографии, включая экстремальное ультрафиолетовое излучение (EUV), представляют все большую сложность и объем данных. Наши решения для вычислительной литографии обеспечивают экономичное внедрение технологий.
проблемы литографии, так и вычислительная сложность, связанная с усовершенствованными технологическими узлами, требуют расширенных возможностей программного и аппаратного обеспечения для вычислительной литографии. Решение Calibre обеспечивает лучшую в своем классе точность, скорость и стоимость владения.

Плотная оптическая близость и коррекция технологического процесса для обеспечения глубокого субмикронного производства.
Вставляет вспомогательные функции с субразрешением (SRAF) в проект.
Мощное полночиповое моделирование и литографический анализ.

Графический интерфейс используется для запуска широкого спектра приложений и просмотра результатов.

Масштабируемый калибровочный механизм для оптических, резистивных и травильных моделей.
Быстрая оптическая коррекция приближения на основе обратных пикселей.
Простой в использовании графический интерфейс для оптимизации источника освещения.