Tessent DefectSim este un simulator de defecte la nivel de tranzistor pentru circuite digitale analogice, cu semnal mixt (AMS) și fără scanare. Măsoară acoperirea defectelor și toleranța la defecte și este perfect atât pentru circuitele integrate cu volum mare, cât și pentru fiabilitate ridicată.
Îmbunătățiți siguranța AMS, calitatea testului și timpul. Tessent DefectSim înlocuiește evaluarea manuală a acoperirii testelor în circuitele AMS, generând date obiective pentru a ghida îmbunătățirile necesare pentru a îndeplini standardele de calitate și siguranță funcțională și obiectivele de acoperire a testelor.
Construit pe tehnicile de injectare a defectelor la nivel de tranzistor utilizate în TestKompress Cell-Aware ATPG pentru circuite digitale scanabile, DefectSIM este potrivit pentru blocuri de circuite industriale care conțin sute sau mii de tranzistoare.
Generați un rezumat executiv care enumeră acoperirea defectului ponderată în funcție de probabilitate, intervalul de încredere și o matrice care enumeră fiecare defect și dacă a fost detectat de o limită de testare eșuată sau de o ieșire digitală.
Reduceți dramatic timpul total de simulare comparativ cu simularea testelor de producție și a listelor netliste cu aspect extras plat în SPICE clasic pe procesoare paralele.
Am evaluat Tessent DefectSim pe mai multe circuite integrate auto și a concluzionat că este o soluție extrem de automatizată și flexibilă, care ghidează îmbunătățirile tehnicilor de testare și proiectare pentru testare și ne permite să îmbunătățim măsurabil acoperirea defectelor testelor analogice.
Explorați rolul simulării defecțiunilor analogice a siguranței funcționale auto și explorați provocările, aplicațiile, beneficiile și impactul simulării defecțiunilor analogice asupra proiectării cipurilor și conformității cu standardele de siguranță.
