Produse Tessent

Tessent AnalogTest reduce dezvoltarea și verificarea modelului de testare analogică de la lunile de inginerie la orele de inginerie. Este cel mai eficient mod de a maximiza acoperirea defectelor, reducând în același timp costul testului.

Tessent In-System Test oferă hardware-ul încorporat și software-ul necesar pentru a permite aplicarea modelelor de testare deterministe de înaltă calitate, reducând în același timp timpul de testare în comparație cu logica tradițională BIST.

Furnizați testul de scanare deterministă de cea mai înaltă calitate cu cel mai mic cost de testare de fabricație, utilizând compresia brevetată pe cip pentru a reduce volumul datelor de testare și a reduce timpul de testare.

Automatizați generarea și inserarea hardware-ului compatibil IEEE 1838 și definiți arhitectura de acces de testare IEEE pentru circuitele integrate stivuite 3D.

Reduceți timpul de dezvoltare DFT și costul testului de fabricație prin decuplarea cerințelor DFT la nivel de nucleu și la nivel de cip cu Tessent Streaming Scan Network (SSN).

Permite automatizarea completă și integrarea testării, reparării, depanării și caracterizării memoriilor încorporate cu Tessent MemoryBist.

Permiteți conformitatea ISO 26262 cu soluția logică ideală de auto-testare încorporată pentru dispozitivele critice pentru siguranță, cum ar fi circuitele integrate utilizate în aplicații auto și medicale.

Combinați automatizarea și IP-ul on-chip pentru a permite testarea și diagnosticarea IC în orice moment al funcționării funcționale a unui vehicul - o cerință fundamentală a standardului ISO 26262.

Reduceți efortul de implementare a DFT cu o automatizare optimă a fluxului Tessent Platform pentru DFT ierarhic.

Îmbunătățiți nivelurile de compresie de testare până la 4X, activați DFT ierarhic, disponibilitatea logică BIST și inserarea scanării cu Tessent ScanPro.

Simplificați o gamă largă de sarcini DFT critice cu acest nou software dezvoltat pentru echipele de proiectare IC.

Simplificați procesul de generare a seturilor de testare compacte cu acoperire ridicată. Capacitatea Tessent FastScan de a fi aplicat la aproape orice tip de design îl face cea mai versatilă soluție ATPG disponibilă.

Furnizați automatizare și integrare pentru testul și instrumentarea IP compatibil IEEE 1687 IJTAG din diverse surse într-un design IC.

Automatizați adăugarea suportului standard de scanare a limitelor IEEE 1149.1 la circuitele integrate de orice dimensiune sau complexitate, reducând efortul de dezvoltare și îmbunătățind timpul de introducere pe piață.

Simulați defectele la nivel de tranzistor pentru circuitele digitale analogice, cu semnal mixt și fără scanare, automatizând evaluarea acoperirii pentru a ajuta la îndeplinirea standardelor de calitate, cum ar fi ISO 26262.

Tessent IJTAG Pro reduce drastic costurile de testare prin accelerarea încărcarei/descărcării modelului IJTAG, crucială pentru chiplete, modele 2.5/3DIC și aplicabilă altor aplicații de testare prin Tessent SSN. Îmbunătățește IJTAG.

Aplicați tehnologii de diagnosticare conștiente de aspect și conștiente de celule pentru a clasifica și identifica cu precizie locația defectelor care cauzează defecțiuni în timpul testelor de fabricație.

Accelerați efectuarea testelor, depanarea și caracterizarea siliciului dispozitivelor care conțin structuri de testare Tessent ATPG, EDT, BIST și/sau IJTAG într-un mediu interactiv automatizat.

Eliminați zgomotul din datele de diagnosticare pentru a determina cauzele principale de bază, identificați limitatorii sistematici de randament și selectați cele mai bune dispozitive pentru analiza defecțiunilor.

Soluție completă de depanare și urmărire RISC-V constând din IP încorporat și software conceput pentru a oferi capabilități cuprinzătoare și eficiente de depanare și urmărire.

Soluție completă de monitorizare funcțională pentru vizibilitatea comportamentului SoC complex, cuprinzând IP-uri configurabile, API-uri C++/Python și un instrument de generare a subsistemului, care poate accelera depanarea, validarea și optimizarea SoC-urilor complexe

Permiteți software-ului de aplicație care rulează pe un SoC să monitorizeze operațiunile în mod eficient. Permiteți rafinării și optimizării succesive a produselor pe baza datelor colectate în utilizarea reală - nu doar în laborator.

Asigurați cea mai înaltă calitate a testelor de fabricație cu soluțiile Tessent. Maximizați numărul de defecte fizice detectate în soluția dvs. de testare cu defecte zero.

Reduceți riscurile și respectați standardele de siguranță necesare cu soluții complete de testare în sistem și de clasificare a defecțiunilor, asigurându-vă că produsul dvs. este pe deplin conform pentru aplicațiile critice pentru siguranță pentru care este proiectat.

Implementați o soluție cuprinzătoare de securitate pentru produsul dvs. IC, adresând autentificarea, comunicarea, protecția și gestionarea ciclului de viață al dispozitivului în cadrul testelor, funcționării funcționale și securității la nivel de sistem.

Diagnosticați și analizați datele privind eșecurile și randamentele privind retururile individuale ale clienților sau datele de producție de volum. Obțineți feedback valoros de proiectare și proces pentru a îmbunătăți fiabilitatea proceselor și proiectelor viitoare.