Skip to main content
Această pagină este afișată prin traducere automată. Vizualizați în schimb în limba engleză?

Calibre Mask Process Correction

Familia Calibre Mask Process Correction de produse bazate pe reguli și modele este utilizată în fabricarea avansată a măștilor fotomatice pentru a corecta litografia mască sistematică și sursele de eroare de proces pentru a se asigura că semnătura dimensiunii critice a măștii este în conformitate cu specificațiile.


Luați legătura cu echipa noastră tehnică 1-800-547-3000

Calibre Mask Process Correction contururile într-un design analizat.
Videoclipuri

Caliber NmMPC Introducere

Aflați cum Calibre NMMPC continuă să conducă calea, stabilind un nou punct de referință în ceea ce privește precizia și fiabilitatea. Această abordare sinergică a modelării măștilor stabilește un nou standard în industria măștilor atât pentru modelele de măști, cât și pentru precizia MPC.

hârtie tehnică

Validare pentru litografia cu mască multi-fascicul

Corecția procesului de mască (MPC) este bine stabilită ca un pas necesar în pregătirea datelor de mască (MDP) pentru fabricarea măștilor cu fascicul de electroni la noduri de tehnologie avansată de la 14 nm și nu numai. MPC folosește de obicei un model de dispersie a electronilor pentru a reprezenta expunerea la fasciculul e și un model de proces pentru a reprezenta efectele procesului de dezvoltare și gravare. Modelele sunt utilizate pentru a simula iterativ poziția marginilor elementelor de aspect și pentru a muta segmentele de margine pentru a maximiza precizia poziției marginii a măștii finalizate. Atribuirea selectivă a dozei poate fi utilizată împreună cu mișcarea marginilor pentru a maximiza simultan precizia ferestrei de proces și a poziției marginii.

Metodologia MPC pentru calibrarea modelului și corectarea aspectului a fost dezvoltată și optimizată pentru scriitorii de măști în formă de fascicul vectorial (VSB) care reprezintă tehnologia dominantă de litografie a măștilor utilizată astăzi pentru fabricarea avansată a măștilor. Scriitorii de mască cu mai multe fascicule (MBMW) au fost introduse recent și încep acum să fie utilizate în producția de fotomască de volum.

Aceste noi instrumente se bazează pe arhitecturi masive de scanare raster paralele care reduc semnificativ dependența timpului de scriere de complexitatea aspectului și se așteaptă să mărească și, în cele din urmă, să înlocuiască tehnologia VSB pentru măștile avansate ale nodurilor, pe măsură ce complexitatea aspectului continuă să crească [5] [6].

Deși este de așteptat ca metodele MPC existente dezvoltate pentru litografia VSB să poată fi adaptate cu ușurință la MBMW, este necesară o examinare riguroasă a corecției erorilor de mască pentru MBMW pentru a confirma pe deplin aplicabilitatea instrumentelor și metodelor actuale și pentru a identifica orice modificări care pot fi necesare pentru a obține performanța CD dorită a MBMW. În această lucrare vom prezenta rezultatele unui astfel de studiu și vom confirma disponibilitatea MPC pentru litografia cu măști cu mai multe fascicule.

A person is holding a book and appears to be reading it while sitting on a chair.

Produse Calibre Mask Process Correction

Regulile Calibre Mask Process Correction și produsele bazate pe model oferă cea mai bună scalabilitate și precizie din clasă pentru a corecta sursele de eroare de la nanometru la intervalul de centimetri pentru împrăștierea electronilor și efectele de încărcare a procesului. Instrumentele avansate de modelare permit calibrarea modelului la o precizie <1 nm.