
SiliconInsight
Acelere a preparação de teste, depuração e caracterização de silício de dispositivos contendo estruturas de teste Tessent ATPG, EDT, BIST e/ou IJTAG dentro de um ambiente interativo automatizado.
Com a complexidade em ascensão, a Tessent Yield Learning está a conceber ferramentas para reduzir a complexidade sem comprometer a qualidade ou a rentabilidade. Estamos a ajudar os clientes a adaptarem-se a ambientes em mudança, ao mesmo tempo que diminuímos o tempo de colocação no mercado e reduzem os custos.

Introduzindo uma nova técnica para maximizar o rendimento do diagnóstico. A tecnologia de particionamento dinâmico no Tessent Diagnosis Diagnostics permite uma redução de 50% no tempo de diagnóstico de varredura utilizando apenas 20% da memória típica.