Porquê a Tessent Streaming Scan Network?
A Tessent Streaming Scan Network cumpre a promessa de um verdadeiro DFT plug-n-play hierárquico. Ao dissociar a configuração DFT de nível central dos recursos DFT no nível do chip, o esforço de planeamento e implementação do DFT é drasticamente reduzido, reduzindo simultaneamente o custo do teste de fabrico.
Acelere o tempo de colocação no mercado
Realize um ganho de produtividade de 10x utilizando um planeamento simplificado a nível do chip. Ao desacoplar o DFT no nível do núcleo e do chip, a compactação no nível do núcleo pode ser otimizada sem considerar outros núcleos ou recursos no nível do chip.
Custos de teste mais baixos
Combinando a sintonia automática da largura de banda e a geração local de sinais DFT, os espaços em branco no padrão são praticamente eliminados.
Reduza o perfil de potência em até 90%
O SSN fornece um perfil de potência mais suave usando relógios de tura/captura escalonados e melhor concorrência. Os núcleos simultâneos a testar podem ser selecionados programaticamente em vez de durante o projeto sem afetar o roteamento no nível do chip.
Como o SSN acelera o tempo de comercialização
Uma abordagem tradicional de teste de varredura hierárquica tem desafios específicos, que podem ser drasticamente melhorados usando um mecanismo de entrega de teste embalado. A Tessent Streaming Scan Network (SSN) reduz o esforço de planeamento e implementação de DFT em até 5x utilizando a entrega de teste em pacotes. Veja o que Pete Orlando tem a dizer sobre as últimas notícias do Tessent SSN.
Utilizar a aplicação Veloce DFT para acelerar rapidamente a qualidade
Robert Serphillips, DFT/Fault Product Manager, discute como usar a aplicação Veloce DFT pode acelerar rapidamente a qualidade e reduzir os custos de teste.
Com a tecnologia Tessent Streaming Scan Network, podemos oferecer aos nossos clientes uma solução de acesso de teste escalável ideal para os designs avançados de IC de hoje e de amanhã. O SSN reduz significativamente o esforço necessário para tornar os designs complexos altamente testáveis.

