À medida que os designs de chips se tornam cada vez maiores e mais complexos, as metodologias tradicionais de depuração da DRC lutam para acompanhar. As abordagens padrão, baseadas em bases de dados de resultados ASCII, muitas vezes não conseguem lidar eficientemente com os enormes volumes de erros produzidos em projetos avançados de nós ou SoC em estágio inicial. Isto leva a um carregamento lento, diagnóstico incompleto e prazos de depuração alargados, uma vez que os engenheiros devem analisar manualmente conjuntos de erros impraticamente grandes, sem a orientação e a visibilidade necessárias para identificar rapidamente as causas mais críticas.
O software Calibre Vision AI da Siemens EDA oferece uma solução transformadora para depuração DRC moderna no nível do chip. Ao alavancar o formato de resultados OASIS altamente eficiente e a análise avançada de sinais orientada por IA, o Calibre Vision AI permite às equipas carregar e analisar milhares de milhões de violações da DRC em segundos, agrupar inteligentemente erros relacionados e priorizar intuitivamente os esforços de depuração. As ferramentas aprimoradas de visualização, navegação e colaboração ajudam os designers a identificar e resolver violações com precisão em todo o chip, acelerando drasticamente os ciclos de verificação física até mesmo para os designs mais complexos.
