
Teste e reparação de memória com detecção ECC no Tessent
Veja como o Tessent MemoryBIST integra o ECC para ganhos de rendimento de fabrico: mascaramento de bits ECC, prevenção de escape de teste e reparação assistida por ECC como uma solução autónoma ou emparelhada por redundância para fiabilidade no sistema.
14 de julho de 2026
Webinar de Apoio ao Cliente



