Soluções de teste Tessent

Tessent AnalogTest reduz o desenvolvimento e a verificação de padrões de teste analógicos de meses de engenharia para horas de engenharia. É a maneira mais eficaz de maximizar a cobertura de defeitos e, ao mesmo tempo, reduzir o custo do teste.

Tessent In-System Test fornece o hardware incorporado e o software necessários para permitir a aplicação de padrões de teste determinísticos de alta qualidade e, ao mesmo tempo, reduzir o tempo de teste em comparação com a lógica tradicional BIST.

Ofereça o teste de escaneamento determinístico da mais alta qualidade com o menor custo de teste de fabricação, usando compressão patenteada no chip para reduzir o volume de dados de teste e reduzir o tempo de teste.

Automatize a geração e a inserção de hardware compatível com IEEE 1838 e defina a arquitetura de acesso de teste IEEE para circuitos integrados empilhados 3D.

Reduza o tempo de desenvolvimento do DFT e o custo do teste de fabricação ao dissociar os requisitos de DFT no nível do núcleo e do chip com Tessent Streaming Scan Network (SSN).

Permita a automação e a integração abrangentes de teste, reparo, depuração e caracterização de memórias incorporadas com Tessent MemoryBIST.

Habilite a conformidade com a ISO 26262 com a solução lógica ideal de autoteste integrada para dispositivos críticos de segurança, como ICs usados em aplicações automotivas e médicas.

Combine automação e IP no chip para permitir o teste e o diagnóstico de IC a qualquer momento durante a operação funcional de um veículo — um requisito fundamental do padrão ISO 26262.

Reduza o esforço de implementação do DFT com uma automação ideal do Tessent Platform fluxo para DFT hierárquico.

Melhore os níveis de compressão de teste em até 4 vezes, habilite o DFT hierárquico, a prontidão lógica do BIST e a inserção de digitalização com Tessent ScanPro.

Simplifique uma ampla variedade de tarefas críticas de DFT com este novo software desenvolvido para equipes de projeto de IC.

Simplifique o processo de geração de conjuntos de teste compactos de alta cobertura. A capacidade de Tessent FastScan a aplicação em quase todos os tipos de design a torna a solução ATPG mais versátil disponível.

Forneça automação e integração para IP de teste e instrumentação compatível com IEEE 1687 IJTAG de várias fontes em um design de IC.

Automatize a adição do suporte de escaneamento de limite padrão IEEE 1149.1 a ICs de qualquer tamanho ou complexidade, reduzindo o esforço de desenvolvimento e melhorando o tempo de colocação no mercado.

Simule defeitos no nível do transistor em circuitos digitais analógicos, de sinal misto e sem escaneamento, automatizando a avaliação de cobertura para ajudar a atender a padrões de qualidade, como ISO 26262.