Otimize a segurança

Obtenha o teste de escaneamento determinístico da mais alta qualidade com o menor custo de teste de fabricação, usando compressão patenteada no chip para reduzir o volume de dados de teste e reduzir o tempo de teste.

Reduza o tempo de desenvolvimento do projeto para testabilidade (DFT) e o custo do teste de fabricação ao dissociar os requisitos de DFT em nível de núcleo e de chip.

Opere uma infraestrutura inteligente e funcional de monitoramento e análise para sistema em chip (SoC) com propriedade intelectual (IP) e software de silício.

Fornece automação e integração para IP de teste e instrumentação compatível com IEEE 1687 IJTAG de várias fontes em um design de IC.

Garanta a conformidade com a ISO26262 com a solução lógica ideal de autoteste integrada para dispositivos críticos de segurança, como ICs usados em aplicações automotivas e médicas.

Garanta a qualidade, melhore a segurança, otimize o desempenho e aumente a confiabilidade incorporando pequenos módulos diretamente em seu sistema em chip (SoC), permitindo a observação não intrusiva do que está acontecendo em seu projeto.

Leia como um número crescente de normas e regulamentações dentro do ecossistema automotivo prometem economizar custos de desenvolvimento ao evitar ataques cibernéticos.

Obtenha um resumo do AESIN e assista ao nosso vídeo sobre nossos resultados do Secure-CAV.