Garanta a qualidade

Obtenha o teste de escaneamento determinístico da mais alta qualidade com o menor custo de teste de fabricação, usando compressão patenteada no chip para reduzir o volume de dados de teste e reduzir o tempo de teste.

Reduza o tempo de desenvolvimento do projeto para testabilidade (DFT) e o custo do teste de fabricação ao dissociar os requisitos de DFT em nível de núcleo e de chip.

Supere as limitações de qualidade das metodologias tradicionais de DFT. Identifique defeitos em ICs nos níveis de transistor e interconexão com nossa geração automática de padrões de teste (ATPG) de nível automotivo.

Obtenha automação e integração abrangentes de teste, reparo, depuração e caracterização de memórias incorporadas.

Satisfaça os requisitos dos ICs para o mercado de eletrônicos automotivos em rápido crescimento e atenda às demandas de novos mercados e tecnologias.

Simule defeitos no nível do transistor para circuitos digitais analógicos, de sinal misto e sem varredura. Atenda aos padrões de qualidade, como o ISO26262, com avaliação de cobertura automatizada.

Lee Harrison, diretor de marketing de produtos da Tessent, fala sobre os ônibus Streaming Scan Network (SSN) e a próxima geração de tecnologia de design para teste nesta entrevista à Electronics Weekly.

Saiba mais sobre as tendências de segurança e segurança cibernética automotiva e o futuro da segurança da tecnologia de mobilidade. Descubra como a Siemens EDA representa uma escolha inteligente para empresas automotivas dentro do ecossistema.

Garanta a qualidade, melhore a segurança, otimize o desempenho e aumente a confiabilidade incorporando pequenos módulos diretamente em seu sistema em chip (SoC), permitindo a observação não intrusiva do que está acontecendo em seu projeto.

Leia como um número crescente de normas e regulamentações dentro do ecossistema automotivo prometem economizar custos de desenvolvimento ao evitar ataques cibernéticos.