Produtos Tessent

O Tessent AnalogTest reduz o desenvolvimento e a verificação de padrões de teste analógicos de meses de engenharia para horas de engenharia. É a maneira mais eficaz de maximizar a cobertura de defeitos e, ao mesmo tempo, reduzir o custo do teste.

O Tessent In-System Test fornece o hardware incorporado e o software necessários para permitir a aplicação de padrões de teste determinísticos de alta qualidade e, ao mesmo tempo, reduzir o tempo de teste em comparação com a lógica tradicional BIST.

Ofereça o teste de escaneamento determinístico da mais alta qualidade com o menor custo de teste de fabricação, usando compressão patenteada no chip para reduzir o volume de dados de teste e reduzir o tempo de teste.

Automatize a geração e a inserção de hardware compatível com IEEE 1838 e defina a arquitetura de acesso de teste IEEE para circuitos integrados empilhados 3D.

Reduza o tempo de desenvolvimento do DFT e o custo do teste de fabricação ao dissociar os requisitos de DFT no nível do núcleo e do chip com a Tessent Streaming Scan Network (SSN).

Permita a automação e a integração abrangentes de teste, reparo, depuração e caracterização de memórias incorporadas com o Tessent MemoryBist.

Habilite a conformidade com a ISO 26262 com a solução lógica ideal de autoteste integrada para dispositivos críticos de segurança, como ICs usados em aplicações automotivas e médicas.

Combine automação e IP no chip para permitir o teste e o diagnóstico de IC a qualquer momento durante a operação funcional de um veículo — um requisito fundamental do padrão ISO 26262.

Reduza o esforço de implementação do DFT com uma automação ideal do fluxo da Plataforma Tessent para o DFT hierárquico.

Melhore os níveis de compressão de teste em até 4 vezes, habilite o DFT hierárquico, a prontidão lógica do BIST e a inserção de digitalização com o Tessent ScanPro.

Simplifique uma ampla variedade de tarefas críticas de DFT com este novo software desenvolvido para equipes de projeto de IC.

Simplifique o processo de geração de conjuntos de teste compactos de alta cobertura. A capacidade do Tessent FastScan de ser aplicado a quase todos os tipos de design o torna a solução ATPG mais versátil disponível.

Forneça automação e integração para IP de teste e instrumentação compatível com IEEE 1687 IJTAG de várias fontes em um design de IC.

Automatize a adição do suporte de escaneamento de limite padrão IEEE 1149.1 a ICs de qualquer tamanho ou complexidade, reduzindo o esforço de desenvolvimento e melhorando o tempo de colocação no mercado.

Simule defeitos no nível do transistor em circuitos digitais analógicos, de sinal misto e sem escaneamento, automatizando a avaliação de cobertura para ajudar a atender a padrões de qualidade, como ISO 26262.

O Tessent IJTAG Pro reduz drasticamente os custos de teste ao acelerar o carregamento/descarregamento do padrão IJTAG, crucial para chiplets, projetos 2.5/3DIC e aplicável a outras aplicações de teste via Tessent SSN. Ele aprimora o IJTAG.

Aplique tecnologias de diagnóstico com reconhecimento de layout e reconhecimento de células para classificar e identificar com precisão a localização dos defeitos que causam falhas durante os testes de fabricação.

Acelere a preparação para testes, a depuração e a caracterização do silício de dispositivos contendo estruturas de teste Tessent ATPG, EDT, BIST e/ou IJTAG em um ambiente interativo automatizado.

Elimine o ruído dos dados de diagnóstico para determinar as causas subjacentes, identificar limitadores sistemáticos de rendimento e selecionar os melhores dispositivos para análise de falhas.

Solução de depuração e rastreamento RISC-V de ponta a ponta que consiste em IP e software incorporados projetados para fornecer recursos abrangentes e eficientes de depuração e rastreamento.

Solução abrangente de monitoramento funcional para visibilidade do comportamento complexo do SoC, incluindo IPs configuráveis, APIs C++/Python e uma ferramenta de geração de subsistemas, que pode acelerar a depuração, validação e otimização de SoCs complexos

Permita que o software de aplicativos em execução em um SoC monitore as operações de forma eficaz. Permita que os produtos sejam refinados e otimizados sucessivamente com base nos dados coletados na vida real, não apenas no laboratório.

Garanta a mais alta qualidade de teste de fabricação com as soluções da Tessent. Maximize o número de defeitos físicos detectados em sua solução de teste de defeito zero.

Reduza os riscos e atenda aos padrões de segurança exigidos com soluções abrangentes de teste e classificação de falhas no sistema, garantindo que seu produto seja totalmente compatível com as aplicações críticas de segurança para as quais foi projetado.

Implemente uma solução de segurança abrangente para seu produto de IC, abordando autenticação, comunicação, proteção e gerenciamento do ciclo de vida do dispositivo em testes, operação funcional e segurança em nível de sistema.

Diagnostique e analise dados de falhas e rendimentos em devoluções individuais de clientes ou dados de produção em volume. Obtenha feedback valioso sobre design e processo para melhorar a confiabilidade de processos e projetos futuros.