À medida que os designs de chips se tornam cada vez maiores e mais complexos, as metodologias tradicionais de depuração da RDC lutam para acompanhar o ritmo. As abordagens padrão, que dependem de bancos de dados de resultados ASCII, geralmente não conseguem lidar com os enormes volumes de erros produzidos em projetos avançados de nós ou SoC em estágio inicial. Isso resulta em carregamento lento, diagnóstico incompleto e cronogramas de depuração estendidos, pois os engenheiros precisam examinar manualmente conjuntos de erros impraticavelmente grandes, sem a orientação e a visibilidade necessárias para identificar rapidamente as causas-raiz mais críticas.
O software Calibre Vision AI da Siemens EDA oferece uma solução transformadora para depuração de DRC moderna em nível de chip. Ao aproveitar o formato de resultados OASIS altamente eficiente e a análise avançada de sinais baseada em IA, o Calibre Vision AI permite que as equipes carreguem e analisem bilhões de violações da RDC em segundos, agrupem erros relacionados de forma inteligente e priorizem intuitivamente os esforços de depuração. Ferramentas aprimoradas de visualização, navegação e colaboração ajudam os designers a identificar e resolver com precisão as violações em todo o chip, acelerando drasticamente os ciclos de verificação física até mesmo nos projetos mais complexos.
