Skip to main content
Ta strona jest wyświetlana przy użyciu automatycznego translatora. Czy chcesz wyświetlić ją w języku angielskim?
widok z boku chipa na pokładzie z niebieskim tłem
Tessent Advanced DFT

Tessent TestKompress

Osiągnij najwyższej jakości wbudowany test skanowania deterministycznego przy najniższych kosztach testu produkcji przy użyciu Tessent TestKompress.

Dlaczego Tessent TestKompress?

Tessent TestKompress, wiodące w branży narzędzie do testowania skanowania, wykorzystuje technologię Embedded Deterministic Test, aby osiągnąć najwyższy poziom jakości testu przy kompresji wzorców skanowania często 100X lub więcej.

Najwyższe pokrycie wad

TestKompress obsługuje wszystkie tradycyjne modele usterek używane do wykrywania zarówno statycznych, jak i dynamicznie aktywowanych defektów. Obsługa modeli błędów zdefiniowanych przez użytkownika umożliwia również modelowanie i ukierunkowanie praktycznie każdego mechanizmu usterek.

W pełni zautomatyzowany

TestKompress oferuje kompleksową automatyzację, skrypty oparte na TCL i możliwości introspekcji. Aby zmaksymalizować przepustowość, automatyczne generowanie wzorców testowych (ATPG) może być dystrybuowane na wielu procesorach.

Niższy czas testu i liczba wzorów

Zbudowany w oparciu o opatentowaną technologię Embedded Deterministic Test (EDT), Tessent TestKompress skraca zarówno czas testu, jak i objętość wzoru o kilka rzędów wielkości bez utraty pokrycia błędów.

Zapytaj eksperta - mężczyzna i kobieta przechodzą konsultacje w biurze.

Gotowy, aby dowiedzieć się więcej o Tessent?

Jesteśmy gotowi, aby odpowiedzieć na twoje pytania.

Dowiedz się więcej