Zapewnij jakość

Uzyskaj najwyższej jakości deterministyczny test skanowania przy najniższych kosztach produkcji, wykorzystując opatentowaną kompresję na chipie, aby zmniejszyć objętość danych testowych i skrócić czas testu.

Zmniejsz czas opracowywania projektu pod kątem testowalności (DFT) i koszty testów produkcyjnych poprzez oddzielenie wymagań DFT na poziomie rdzenia i na poziomie chipów.

Pokonaj ograniczenia jakości tradycyjnych metodologii DFT. Celuj defekty układów scalonych na poziomach tranzystorów i połącz się z naszym automatycznym generowaniem wzorców testowych klasy samochodowej (ATPG).

Osiągnij kompleksową automatyzację i integrację testów, napraw, debugowania i charakterystyki wbudowanych pamięci.

Spełnij wymagania układów scalonych dla szybko rozwijającego się rynku elektroniki samochodowej i spełnij wymagania nowych rynków i technologii.

Symuluj defekty na poziomie tranzystorów dla analogowych, mieszanych i nieskanowanych obwodów cyfrowych. Spełnij standardy jakości, takie jak ISO26262, dzięki automatycznej ocenie zasięgu.

Lee Harrison, dyrektor ds. marketingu produktów w Tessent, opowiada o magistralach Streaming Scan Network (SSN) i nowej generacji technologii projektowania do testowania w wywiadzie dla Electronics Weekly.

Dowiedz się o trendach związanych z bezpieczeństwem cybernetycznym i bezpieczeństwem motoryzacyjnym oraz o przyszłości bezpieczeństwa technologii mobilności. Dowiedz się, w jaki sposób Siemens EDA stanowi inteligentny wybór dla firm motoryzacyjnych w ecosystem.

Zapewnij jakość, zwiększaj bezpieczeństwo, optymalizuj wydajność i zwiększaj niezawodność poprzez osadzanie małych modułów bezpośrednio w systemie na chipie (SoC), umożliwiając nieinwazyjną obserwację tego, co dzieje się w projekcie.

Przeczytaj, jak rosnąca liczba standardów i przepisów w ekosystemie motoryzacyjnym obiecuje zaoszczędzić koszty rozwoju poprzez odpieranie cyberataków.