Produkty Tessent

Tessent AnalogTest ogranicza opracowywanie i weryfikację wzorców testów analogowych z miesięcy inżynierskich do godzin inżynierskich. Jest to najskuteczniejszy sposób na maksymalizację pokrycia wad przy jednoczesnym obniżeniu kosztów testu.

Tessent In-System Test zapewnia wbudowany sprzęt i niezbędne oprogramowanie, aby umożliwić stosowanie wysokiej jakości deterministycznych wzorców testów przy jednoczesnym skróceniu czasu testu w porównaniu z tradycyjną logiką BIST.

Zapewnij najwyższej jakości deterministyczny test skanowania przy najniższych kosztach produkcji, wykorzystując opatentowaną kompresję na chipie w celu zmniejszenia objętości danych testowych i skrócenia czasu testu.

Zautomatyzuj generowanie i wstawianie sprzętu zgodnego z IEEE 1838 i zdefiniuj architekturę dostępu testowego IEEE dla układów scalonych układów scalonych 3D.

Zmniejsz czas opracowywania DFT i koszty testów produkcyjnych poprzez oddzielenie wymagań DFT na poziomie rdzenia i chipu z siecią Tessent Streaming Scan Network (SSN).

Umożliwia kompleksową automatyzację i integrację testów, naprawy, debugowania i charakterystyki wbudowanych pamięci za pomocą Tessent MemoryBist.

Zapewnij zgodność z normą ISO 26262 z idealnym wbudowanym rozwiązaniem logicznym do autotestów dla urządzeń o znaczeniu krytycznym dla bezpieczeństwa, takich jak układy scalone stosowane w zastosowaniach motoryzacyjnych i medycznych.

Połącz automatyzację i IP na chipie, aby umożliwić testowanie układu scalonego i diagnostykę w dowolnym momencie podczas funkcjonalnej pracy pojazdu — podstawowy wymóg normy ISO 26262.

Zmniejsz wysiłek wdrażania DFT dzięki optymalnej automatyzacji przepływu Tessent Platform dla hierarchicznego DFT.

Popraw poziom kompresji testowej do 4X, włącz hierarchiczny DFT, logiczną gotowość BIST i wstawianie skanowania dzięki Tessent ScanPro.

Usprawnij szeroki wachlarz krytycznych zadań DFT dzięki temu nowemu oprogramowaniu opracowanemu dla zespołów projektowych IC.

Uprość proces generowania kompaktowych zestawów testowych o wysokim zasięgu. Możliwość zastosowania Tessent FastScan do większości każdego rodzaju konstrukcji sprawia, że jest to najbardziej wszechstronne dostępne rozwiązanie ATPG.

Zapewnij automatyzację i integrację protokołu IP testów i oprzyrządowania zgodnego z IEEE 1687 IJTAG z różnych źródeł w konstrukcję IC.

Zautomatyzuj dodawanie standardowej obsługi skanowania granic IEEE 1149.1 do układów scalonych o dowolnej wielkości lub złożoności, zmniejszając wysiłek rozwojowy i wydłużając czas wprowadzania na rynek.

Symuluj defekty na poziomie tranzystorów dla analogowych, mieszanych i nieskanowanych obwodów cyfrowych, automatyzując ocenę zasięgu, aby pomóc spełnić standardy jakości, takie jak ISO 26262.

Tessent IJTAG Pro drastycznie obniża koszty testów poprzez przyspieszenie ładowania/rozładunku wzorów IJTAG, co jest kluczowe dla chipletów, projektów 2.5/3DIC i ma zastosowanie do innych zastosowań testowych za pośrednictwem Tessent SSN. Wzmacnia IJTAG.

Zastosuj technologie diagnostyczne uwzględniające układ i świadomość komórek, aby dokładnie sklasyfikować i zidentyfikować lokalizację defektów powodujących awarie podczas testów produkcyjnych.

Przyspiesz tworzenie testów, debugowanie i charakterystykę krzemu urządzeń zawierających struktury testowe Tessent ATPG, EDT, BIST i/lub IJTAG w zautomatyzowanym środowisku interaktywnym.

Wyeliminuj hałas z danych diagnostycznych, aby określić podstawowe przyczyny, zidentyfikować systematyczne ograniczniki wydajności i wybrać najlepsze urządzenia do analizy awarii.

Kompleksowe rozwiązanie do debugowania i śledzenia RISC-V składające się z wbudowanego adresu IP i oprogramowania zaprojektowanego w celu zapewnienia kompleksowych, wydajnych funkcji debugowania i śledzenia.

Kompleksowe rozwiązanie do monitorowania funkcjonalnego zapewniające widoczność złożonych zachowań SoC, obejmujące konfigurowalne adresy IP, APIs C++/Python oraz narzędzie do generowania podsystemów, które może przyspieszyć debugowanie, walidację i optymalizację złożonych SoC

Pozwól oprogramowaniu aplikacyjnym działającemu na SoC skutecznie monitorować operacje. Pozwól na sukcesywne udoskonalanie i optymalizację produktów w oparciu o dane zebrane w rzeczywistym użytkowaniu - nie tylko w laboratorium.

Zapewnij najwyższą jakość testów produkcyjnych dzięki rozwiązaniom Tessent. Zmaksymalizuj liczbę wykrytych defektów fizycznych w rozwiązaniu testowym o zerowej wadze.

Zmniejsz ryzyko i spełnij wymagane normy bezpieczeństwa dzięki kompleksowym rozwiązaniom do testowania i klasyfikacji usterek, zapewniając, że produkt jest w pełni zgodny z zastosowaniami krytycznymi dla bezpieczeństwa, do których został zaprojektowany.

Wdrożyć kompleksowe rozwiązanie zabezpieczające dla swojego produktu IC, obejmujące uwierzytelnianie, komunikację, ochronę i zarządzanie cyklem życia urządzenia w zakresie testów, operacji funkcjonalnych i zabezpieczeń na poziomie systemu.

Diagnozuj i analizuj dane dotyczące awarii i wydajności poszczególnych zwrotów klientów lub danych dotyczących wielkości produkcji. Uzyskaj cenne informacje zwrotne dotyczące projektowania i procesów, aby poprawić niezawodność przyszłych procesów i projektów.