Wydarzenia Tessent

Dowiedz się, jak testy skanowania cyfrowego i ATPG można zastosować do obwodów A/MS, aby uzyskać wysokie pokrycie defektów i zminimalizować czas testera o rzędy wielkości.

Dowiedz się, w jaki sposób oprogramowanie wbudowane, działające na docelowym krzemie, może stanowić doskonałą alternatywę dla wydobywania większej ilości informacji z monitorów na chipie i struktur debugowania w celu analizy i optymalizacji.

To seminarium internetowe przedstawia Tessent Streaming Scan Network (SSN), rozwiązanie DFT, które znacznie upraszcza i przyspiesza planowanie i wdrażanie DFT poprzez automatyzację i metody plug-&-play, aby zapewnić szybki czas wprowadzania na rynek.

Peter Shields, Product Manager w Tessent, udziela eksperckiej wiedzy na temat standardu śledzenia RISC-V i pokazuje, w jaki sposób wdrożenie standardu pomaga zmniejszyć ryzyko związane z przyjęciem RISC-V.

Nie przegap tego webinaru, przedstawiającego i demonstrującego nowe oprogramowanie Tessent Multi-Die, które zapewnia kompleksową automatyzację dla bardzo złożonych zadań DFT związanych z najnowszymi projektami układów scalonych 2.5D i 3D.

Dowiedz się, jak sprostać wyzwaniom, jakie krytyczne systemy ADAS stawiają projektantom półprzewodników w zakresie spełniania wymagań bezpieczeństwa funkcjonalnego określonych w normie ISO 26262.

Dołącz do tego webinaru, aby dowiedzieć się, jak Tessent SiliconInsight rozwiązuje wyzwania związane z wprowadzaniem krzemu w celu poprawy wydajności i czasu wprowadzenia na rynek.

Obejrzyj to seminarium internetowe na żądanie przeprowadzone przez technologów Siemens i PDF Solutions, aby dowiedzieć się o naszym zintegrowanym, kompleksowym rozwiązaniu obejmującym analizę, diagnostykę skanowania i uczenie maszynowe.

Nowe metody i narzędzia dla SoC DFT mogą uprościć problemy wprowadzane przez technologię, projektowanie i skalowanie systemu. Dowiedz się, jak zmniejszyć ryzyko i zwiększyć czas wprowadzania na rynek dzięki bardziej przewidywalnemu i niezawodnemu rozwiązaniu DFT.

Obejrzyj to seminarium internetowe w dowolnym momencie na temat skutecznego rozwiązywania wyzwań związanych z zabezpieczeniem pojazdów podłączonych i autonomicznych.

Posłuchaj liderów w tej dziedzinie omawiających wyzwania techniczne związane z projektowaniem układów sztucznej inteligencji. Gajinder Panesar, członek Siemensa, mówi o wartości Embedded Analytics w pomaganiu układom AI i ML w osiągnięciu ich potencjału.

Optymalizuj wydajność SoC i przeprowadzaj konserwację predykcyjną w terenie. Podejście do głębokiego monitorowania danych zapewnia radykalną poprawę czasu uzyskania przychodów, jakości produktów, niezawodności i bezpieczeństwa oraz rentowności.

Obejrzyj to seminarium internetowe na żądanie, aby dowiedzieć się o technologii odwracalnego łańcucha skanowania i jak poprawiła rozdzielczość diagnostyczną o 4X w przemysłowym studium przypadku.