Tessent Streaming Scan Network
Tessent Streaming Scan Network pakker testdata for å redusere DFT-implementeringsinnsatsen dramatisk og redusere produksjonstestkostnadene. Ved å koble fra DFT-krav på kjernenivå og chip-nivå, kan hver kjerne utformes med den mest optimale komprimeringskonfigurasjonen for den kjernen.
Hvorfor Tessent Streaming Scan Network?
Tessent Streaming Scan Network leverer løftet om ekte hierarkisk plug-n-play DFT. Ved å koble fra DFT-konfigurasjon på kjernenivå fra DFT-ressurser på brikkenivå, reduseres DFT-planleggings- og implementeringsinnsatsen dramatisk samtidig som produksjonstestkostnadene reduseres.
Øker tiden til markedet
Realiser en 10x produktivitetsgevinst ved hjelp av forenklet planlegging på chip-nivå. Ved å koble fra DFT på kjerne- og chip-nivå, kan komprimering på kjernenivå optimaliseres uten å vurdere andre kjerner eller ressurser på chip-nivå.
Lavere testkostnader
Ved å kombinere automatisk båndbreddeinnstilling og lokal generering av DFT-signaler, blir mellomrom i mønsteret praktisk talt eliminert.
Reduser effektprofilen med opptil 90%
SSN gir en jevnere effektprofil ved hjelp av forskjøvede skift/fangstklokker og bedre samtidighet. Samtidige kjerner som skal testes kan velges programmatisk i stedet for under design uten å påvirke rutingen på chip-nivå.
Hvordan SSN akselererer tiden til markedet
En tradisjonell hierarkisk skanningstesttilnærming har spesifikke utfordringer, som kan forbedres drastisk ved hjelp av en pakketisert testleveringsmekanisme. Tessent Streaming Scan Network (SSN) reduserer DFT-planleggings- og implementeringsinnsatsen opptil 5 ganger ved bruk av pakketisert testlevering. Se hva Pete Orlando har å si om de siste nyhetene på Tessent SSN.
Fremtiden for pakketisert test
Med pakketisert levering av testdata som blir bransjestandarden for komplekse digitale halvlederdesign, forklarer Geir Eide, Senior Director, Product Management, hvorfor ledende halvlederselskaper har tatt i bruk Tessent SSN for å forbedre DFT-implementeringsproduktiviteten og produksjonstesttiden.
Brukere oppnår opptil 10 ganger gevinst i DFT-implementering og produktivitet, og opptil 5 ganger reduksjon i testtid.
Med Tessent Streaming Scan Network-teknologi kan vi tilby våre kunder en skalerbar testtilgangsløsning ideell for dagens og morgendagens avanserte IC-design. SSN reduserer betydelig innsatsen som trengs for å gjøre komplekse design svært testbare.