Tessent Streaming Scan Network
Tessent Streaming Scan Network pakker testdata for å redusere DFT-implementeringsinnsatsen dramatisk og redusere produksjonstestkostnadene. Ved å koble fra DFT-krav på kjernenivå og chip-nivå, kan hver kjerne utformes med den mest optimale komprimeringskonfigurasjonen for den kjernen.
Hvorfor Tessent Streaming Scan Network?
Tessent Streaming Scan Network leverer løftet om ekte hierarkisk plug-n-play DFT. Ved å koble fra DFT-konfigurasjon på kjernenivå fra DFT-ressurser på brikkenivå, reduseres DFT-planleggings- og implementeringsinnsatsen dramatisk samtidig som produksjonstestkostnadene reduseres.
Øker tiden til markedet
Realiser en 10x produktivitetsgevinst ved hjelp av forenklet planlegging på chip-nivå. Ved å koble fra DFT på kjerne- og chip-nivå, kan komprimering på kjernenivå optimaliseres uten å vurdere andre kjerner eller ressurser på chip-nivå.
Lavere testkostnader
Ved å kombinere automatisk båndbreddeinnstilling og lokal generering av DFT-signaler, blir mellomrom i mønsteret praktisk talt eliminert.
Reduser effektprofilen med opptil 90%
SSN gir en jevnere effektprofil ved hjelp av forskjøvede skift/fangstklokker og bedre samtidighet. Samtidige kjerner som skal testes kan velges programmatisk i stedet for under design uten å påvirke rutingen på chip-nivå.
Hvordan SSN akselererer tiden til markedet
En tradisjonell hierarkisk skanningstesttilnærming har spesifikke utfordringer, som kan forbedres drastisk ved hjelp av en pakketisert testleveringsmekanisme. Tessent Streaming Scan Network (SSN) reduserer DFT-planleggings- og implementeringsinnsatsen opptil 5 ganger ved bruk av pakketisert testlevering. Se hva Pete Orlando har å si om de siste nyhetene på Tessent SSN.
Bruke Veloce DFT-appen for raskt å akselerere kvaliteten
Robert Serphillips, DFT/Fault Product Manager, diskuterer hvordan bruk av Veloce DFT-appen raskt kan øke kvaliteten og redusere testkostnadene.
Med Tessent Streaming Scan Network-teknologi kan vi tilby våre kunder en skalerbar testtilgangsløsning ideell for dagens og morgendagens avanserte IC-design. SSN reduserer betydelig innsatsen som trengs for å gjøre komplekse design svært testbare.