Skip to main content
Deze pagina wordt weergegeven met behulp van automatische vertaling. In plaats daarvan in het Engels bekijken?
Er staat een persoon voor een groot scherm met een grafiek met een rode lijn.
Tessent Yield Learning

Tessent YieldinSight

Tessent YieldinSight analyseert diagnosegegevens statistisch om systematische rendementsbegrenzers te identificeren en te scheiden voordat een foutanalyse wordt uitgevoerd. Tessent YieldinSight is gespecialiseerd in het begrijpen en identificeren van rendementsverlies op basis van scantestgegevens en maakt de resultaten van de volumediagnose bruikbaar.

Waarom Tessent YieldinSight?

Met behulp van gespecialiseerde datamining- en statistische analysetechnieken elimineert Tessent YieldinSight ruis uit diagnosegegevens om de onderliggende oorzaken te bepalen, systematische rendementsbegrenzers te identificeren en de beste apparaten voor storingsanalyses te selecteren.

Identificeer verborgen rendementsbegrenzers

Tessent YieldinSight identificeert de oorzaak van systematisch rendementsverlies en geeft begeleiding bij het selecteren van de matrijs voor de analyse van fouten.

Ruis uit de diagnoseresultaten verwijderen

De technologie voor deconvolutie van de hoofdoorzaak (RCD) verwijdert ruis uit de diagnoseresultaten en bepaalt de onderliggende oorzaken. Het selecteert en filtert populaties van falende sterfgevallen, waarbij stervende mensen worden gegroepeerd die om soortgelijke redenen falen.

Werkt met Tessent Diagnosis

Analyseert de resultaten van Tessent Diagnosis die zijn gebaseerd op de indeling en de cellen om systematische rendementsbegrenzers te identificeren en te scheiden voordat een foutenanalyse wordt uitgevoerd, waardoor dure fysieke lokalisatie niet meer nodig is.

Webinar

Een nieuwe omkeerbare scanketentechnologie

Dit gezamenlijke webinar tussen Siemens EDA en Qualcomm, georganiseerd door ASM International, belicht:

  • Motivatie om ketendiagnose te gebruiken bij een rendementsverhoging
  • Overzicht van de ketendiagnose, omkeerbare ketting
  • Omkeerbare ketentechnologie en diagnose
  • Implementatie van omkeerbare kettingen
  • Siliciumresultaten van de testchip
 Close-up van een processorchip op een printplaat met blauwe achtergrond.

Meer informatie