Tessent
all
Silicon Insight
Versnelde testopstart, debug en karakterisering van silicium van apparaten die Tessent ATPG-, EDT-, BIST- en/of IJTAG-teststructuren bevatten in een geautomatiseerde interactieve omgeving.
Tessent Yield Learning
Verkort de tijd om te oogsten, beheer productie-excursies en herstel de opbrengst als gevolg van systematische defecten. Door te begrijpen hoe de test- en gegevensverzamelingsomgeving kan worden beheerd en geoptimaliseerd, kunnen oplossingen voor yield learning worden opgezet om systematische defecten te identificeren die een laag rendement veroorzaken, wat tijd bespaart.
Verminder de complexiteit met Tessent Yield Learning-oplossingen
Nu de complexiteit toeneemt, ontwerpt Tessent Yield Learning hulpmiddelen om de complexiteit te verminderen zonder afbreuk te doen aan kwaliteit of winstgevendheid. We helpen klanten zich aan te passen aan veranderende omgevingen en tegelijkertijd de time-to-market te verkorten en de kosten te verlagen.
Ontdek technologieën
Meer informatie
Whitepaper
all
Verbeter de doorvoersnelheid van de volumescan met 10x
Introductie van een nieuwe techniek om de diagnosesnelheid te maximaliseren. De dynamische partitioneringstechnologie in Tessent Diagnosis maakt een vermindering van de scandiagnosetijd mogelijk met 50%, waarbij slechts 20% van het normale geheugen wordt gebruikt.
