Tessent
all
Silicon Insight
Versnelde testopstart, debug en karakterisering van silicium van apparaten die Tessent ATPG-, EDT-, BIST- en/of IJTAG-teststructuren bevatten in een geautomatiseerde interactieve omgeving.
Tessent Yield Learning
Verkort de tijd om te oogsten, beheer productie-excursies en herstel de opbrengst als gevolg van systematische defecten. Door te begrijpen hoe de test- en gegevensverzamelingsomgeving kan worden beheerd en geoptimaliseerd, kunnen oplossingen voor yield learning worden opgezet om systematische defecten te identificeren die een laag rendement veroorzaken, wat tijd bespaart.
Verminder de complexiteit met Tessent Yield Learning-oplossingen
Nu de complexiteit toeneemt, ontwerpt Tessent Yield Learning hulpmiddelen om de complexiteit te verminderen zonder afbreuk te doen aan kwaliteit of winstgevendheid. We helpen klanten zich aan te passen aan veranderende omgevingen en tegelijkertijd de time-to-market te verkorten en de kosten te verlagen.
