Deze pagina wordt weergegeven met behulp van automatische vertaling. In plaats daarvan in het Engels bekijken?

Geheugen-IC wordt vastgehouden door een robotarm voor weergave.

Testoplossingen van Tessent

De productsuite van Tessent Test Solutions biedt uitgebreide siliciumtest- en operationele toepassingen en IP die de uitdagingen van fabricage, testen, debuggen en rendementsverhoging voor de meest complexe SoC's van vandaag aanpakken.

Bronnen bekijken

Ontdek oplossingsgebieden

Het logica- en geheugentestproduct van Tessent is gebaseerd op de beste oplossingen in zijn klasse voor elke testdiscipline en brengt alle mogelijkheden samen in een krachtige testflow die een totale chipdekking garandeert.

Een close-up van een vintage analoog apparaat met een draaiknop en knoppen, mogelijk een radio of audioapparatuur.

Analoge test

Tessent AnalogTest reduceert de ontwikkeling en verificatie van analoge testpatronen van technische maanden naar technische uren. Het is de meest effectieve manier om de dekking van defecten te maximaliseren en tegelijkertijd de testkosten te verlagen.

rij berekenen in datacenter

Test in het systeem

Tessent In-System Test biedt de ingebouwde hardware en de nodige software om de toepassing van hoogwaardige deterministische testpatronen mogelijk te maken en tegelijkertijd de testtijd te verkorten in vergelijking met traditionele logische BIST.

Chips op een moederbord met blauwe achtergrond

Test Kompress

Voer deterministische scantests van de hoogste kwaliteit uit met de laagste productietestkosten, met behulp van gepatenteerde compressie op de chip om het volume van de testgegevens te verminderen en de testtijd te verkorten.

chip met meerdere matrijzen

Multi-matrijs

Automatiseer de generatie en invoeging van IEEE 1838-compatibele hardware en definieer de IEEE-testtoegangsarchitectuur voor gestapelde 3D-schakelingen.

grote chip aan boord met groene achtergrond

Streaming Scan-netwerk

Verkort de ontwikkelingstijd van DFT en de kosten van productietests door de DFT-vereisten op kernniveau en op chipniveau te ontkoppelen met Tessent Streaming Scan Network (SSN).

Chip op een bord met een koperen achtergrond

GeheugenBist

Maak uitgebreide automatisering en integratie mogelijk van het testen, repareren, debuggen en karakteriseren van ingebedde geheugens met Tessent MemoryBIST.

zijhoek van de chip aan boord met groene achtergrond

LogicBist

Maak ISO 26262-conformiteit mogelijk met de ideale ingebouwde logische zelftestoplossing voor veiligheidskritieke apparaten zoals IC's die worden gebruikt in automobiel- en medische toepassingen.

man die op de computer werkt met auto-ontwerp op schermen

Missiemodus

Combineer automatisering en IP-technologie op de chip om op elk moment tijdens de functionele werking van een voertuig IC-tests en -diagnose mogelijk te maken — een fundamentele vereiste van de ISO 26262-norm.

spaander

Platform

Verminder de implementatie-inspanningen van DFT met een optimale automatisering van de Tessent Platform flow voor hiërarchische DFT.

man die op de computer aan het bureau werkt

ScanPro

Verbeter de testcompressieniveaus tot wel 4x, maak hiërarchische DFT, logische BIST-gereedheid en scaninvoer mogelijk met Tessent ScanPro.

Een persoon staat voor een witte muur met een zwarte rand, met een zwart shirt en een zwarte hoed op.

RTL Pro

Stroomlijn een breed scala aan kritieke DFT-taken met deze nieuwe software die is ontwikkeld voor IC-ontwerpteams.

Iemand gebruikt een smartphone om een barcode op een product in een winkel te scannen.

FastScan

Vereenvoudig het proces voor het genereren van compacte testsets met een hoge dekking. Het vermogen van Tessent FastScan die op vrijwel elk type ontwerp kan worden toegepast, maakt het de meest veelzijdige ATPG-oplossing die er is.

ontwerpers die aan design werken

JTAG

Zorg voor automatisering en integratie voor IEEE 1687 IJTAG-compatibele test- en instrumentatie-IP van verschillende bronnen in een IC-ontwerp.

heldere en zilveren chip aan boord

Grenscan

Automatiseer de toevoeging van IEEE 1149.1-standaard grensscanondersteuning aan IC's van elke grootte of complexiteit, waardoor de ontwikkelingsinspanningen worden verminderd en de time-to-market wordt verbeterd.

Een persoon staat voor een witte muur met een zwart-wit afbeelding van iemands gezicht.

Simkaart met defecten

Simuleer defecten op transistorniveau voor analoge, gemengde en niet-gescande digitale circuits, waarbij de dekkingsbeoordeling wordt geautomatiseerd om te helpen voldoen aan kwaliteitsnormen zoals ISO 26262.