Deze pagina wordt weergegeven met behulp van automatische vertaling. In plaats daarvan in het Engels bekijken?

Geheugen-IC wordt vastgehouden door een robotarm voor weergave.

Tessent Test Solutions

De productsuite van Tessent Test Solutions biedt uitgebreide toepassingen voor testen en operaties op silicium en IP die een oplossing bieden voor de uitdagingen op het gebied van productie, testen, debuggen en rendementsverhoging voor de meest complexe SoC's van vandaag.

Hulpbronnen bekijken

Ontdek oplossingsgebieden

Het logica- en geheugentestproduct van Tessent is gebaseerd op de beste oplossingen in zijn klasse voor elke testdiscipline en brengt alle mogelijkheden samen in een krachtige testflow die een totale chipdekking garandeert.

Een close-up van een klassiek analoog apparaat met een draaiknop en knoppen, mogelijk een radio of audioapparatuur.

Analoge test

Tessent AnalogTest beperkt de ontwikkeling en verificatie van analoge testpatronen van technische maanden naar technische uren. Het is de meest effectieve manier om de dekking van defecten te maximaliseren en tegelijkertijd de testkosten te verlagen.

rij berekenen in het datacenter

Test in het systeem

Tessent In-System Test levert de ingebouwde hardware en de benodigde software om deterministische testpatronen van hoge kwaliteit toe te passen en tegelijkertijd de testtijd te verkorten in vergelijking met traditionele logische BIST.

Chips op een moederbord met blauwe achtergrond

Test Kompress

Voer deterministische scantest van de hoogste kwaliteit uit tegen de laagste productietestkosten, met behulp van gepatenteerde compressie op de chip om het volume van de testgegevens te verminderen en de testtijd te verkorten.

chip met meerdere matrijzen

Multi-die

Automatiseer de generatie en invoeging van hardware die voldoet aan IEEE 1838 en definieer de IEEE-testtoegangsarchitectuur voor gestapelde 3D-schakelingen.

grote chip aan boord met groene achtergrond

Streaming Scan-netwerk

Verkort de ontwikkelingstijd van DFT en de kosten van productietests door de DFT-vereisten op kernniveau en op chipniveau los te koppelen met Tessent Streaming Scan Network (SSN).

Chip op een bord met een koperen achtergrond

MemoryBist

Maak uitgebreide automatisering en integratie mogelijk van het testen, repareren, debuggen en karakteriseren van ingebedde herinneringen met Tessent MemoryBist.

zijhoek van de chip aan boord met groene achtergrond

LogicBist

Maak ISO 26262-conformiteit mogelijk met de ideale ingebouwde logische zelftestoplossing voor veiligheidskritieke apparaten, zoals IC's die worden gebruikt in automobiel- en medische toepassingen.

man die aan een computer werkt met auto-ontwerp op schermen

Missiemodus

Combineer automatisering en IP-technologie op de chip om IC-tests en -diagnoses mogelijk te maken op elk moment tijdens de functionele werking van een voertuig — een fundamentele vereiste van de ISO 26262-norm.

spaander

Platform

Verminder de inspanningen voor de implementatie van DFT met een optimale automatisering van de Tessent Platform-flow voor hiërarchische DFT.

man werkt aan de computer aan het bureau

ScanPro

Verbeter de testcompressieniveaus tot wel 4x, maak hiërarchische DFT, logische BIST-gereedheid en scaninvoer mogelijk met Tessent ScanPro.

Er staat iemand voor een witte muur met een zwarte rand, met een zwart shirt en een zwarte hoed op.

RTL Pro

Stroomlijn een breed scala aan kritieke DFT-taken met deze nieuwe software die is ontwikkeld voor IC-ontwerpteams.

Iemand gebruikt een smartphone om een barcode te scannen op een product in een winkel.

FastScan

Vereenvoudig het proces voor het genereren van compacte testsets met een hoge dekking. De mogelijkheid van Tessent FastScan om op vrijwel elk type ontwerp te worden toegepast, maakt dit de meest veelzijdige ATPG-oplossing die er is.

ontwerpers die aan design werken

JTAG

Zorg voor automatisering en integratie van IEEE 1687 IJTAG-compatibele test- en instrumentatie-IP van verschillende bronnen in een IC-ontwerp.

doorzichtige en zilveren chip aan boord

Boundary Scan

Automatiseer de toevoeging van IEEE 1149.1-standaard grensscanondersteuning aan IC's van elke grootte of complexiteit, waardoor de ontwikkelingsinspanningen worden verminderd en de time-to-market wordt verbeterd.

Er staat iemand voor een witte muur met een zwart-witafbeelding van iemands gezicht.

Simkaart met defecten

Simuleer defecten op transistorniveau voor analoge, gemengde en niet-gescande digitale circuits, waarbij de dekkingsbeoordeling wordt geautomatiseerd om te helpen voldoen aan kwaliteitsnormen zoals ISO 26262.