
Calibre EUV
Uitgebreide ondersteuning voor de unieke uitdagingen van EUV met een hoge NA, zoals anamorfe optica en 3D-modellering van maskers om rekening te houden met schaduweffecten.
De onverzadigbare vraag naar geïntegreerde schakelingen (IC's) blijft leiden tot kleinere kritieke dimensies. Fotolithografieprocessen, waaronder extreem ultraviolet (EUV), worden steeds complexer en worden steeds omvangrijker. Onze oplossingen voor computationele lithografie maken kosteneffectieve technologische ondersteuning mogelijk.
Zowel de lithografische uitdagingen als de computationele complexiteit die gepaard gaat met geavanceerde procesknooppunten creëren een behoefte aan geavanceerde mogelijkheden op het gebied van software en hardware voor computationele lithografie. De Calibre-oplossing biedt de beste nauwkeurigheid, snelheid en gebruikskosten in zijn klasse.

Dichte optische nabijheid en procescorrectie om productie van diepe submicron mogelijk te maken.
Voegt ondersteunende functies voor subresolutie (SRAF's) in een ontwerp in.
Krachtige simulatie met volledige chip en lithografische analyse.

GUI die wordt gebruikt om een grote verscheidenheid aan toepassingen te starten en resultaten te bekijken.

Zeer schaalbare kalibratie-engine voor optische, resistmodellen en etch-modellen.
Snelle optische nabijheidscorrectie op basis van inverse pixels.
Eenvoudig te gebruiken GUI voor optimalisatie van de verlichtingsbron.