
Calibre EUV
Uitgebreide ondersteuning bij het aanpakken van de unieke uitdagingen van EUV met een hoog NA-gehalte, zoals anamorfe optica en 3D-modellering van maskers om rekening te houden met schaduweffecten.
De onverzadigbare vraag naar geïntegreerde schakelingen (IC's) blijft leiden tot kleinere kritieke dimensies. Fotolithografieprocessen, waaronder extreem ultraviolet (EUV), worden steeds complexer en worden steeds omvangrijker. Onze computationele lithografieoplossingen maken kosteneffectieve technologische ondersteuning mogelijk.
Zowel de lithografische uitdagingen als de computationele complexiteit die gepaard gaat met geavanceerde procesknooppunten creëren een behoefte aan geavanceerde mogelijkheden op het gebied van computationele lithografiesoftware en -hardware. De Calibre-oplossing biedt de beste nauwkeurigheid, snelheid en gebruikskosten in zijn klasse.

Dichte optische nabijheid en procescorrectie om diepe submicronproductie mogelijk te maken.
Voegt ondersteunende functies voor subresolutie (SRAF's) in een ontwerp in.
Krachtige simulatie met volledige chip en lithografische analyse.

GUI wordt gebruikt om een breed scala aan toepassingen te starten en resultaten te bekijken.

Zeer schaalbare kalibratie-engine voor optische, resist-en etch-modellen.
Snelle optische nabijheidscorrectie op basis van inverse pixels.
Eenvoudig te gebruiken GUI voor optimalisatie van de verlichtingsbron.