Tessent MemoryBist nodrošina pilnīgu risinājumu ātruma pārbaudei, diagnostikai, remontam, atkļūdošanai un iegulto atmiņu raksturošanai. Izmantojot elastīgu hierarhisko arhitektūru, iebūvēto pašpārbaudi un pašremontu var integrēt gan atsevišķos kodolos, gan augstākajā līmenī.
Tessent MemoryBist, nozarē vadošā atmiņas iebūvētā pašpārbaude, ietver unikāli visaptverošu automatizācijas plūsmu, kas nodrošina dizaina noteikumu pārbaudi, testa plānošanu, integrāciju un verifikāciju RTL vai vārtu līmenī.
Tessent MemoryBist ECC uzlabo uzticamību, uzlabo testa kvalitāti un aizsargā pret novecošanās defektiem. Tās pielāgojamie caurlaidīšanas/neveiksmes kritēriji ļauj optimāli kombinēt atmiņas atlaišanu un kļūdu labošanas kodu.
Tessent MemoryBist NVM nodrošina elastīgu pārbaudi un remontu, samazina ražošanas testa izmaksas un uzlabo uzticamību. Automatizētie NVM specifiskie algoritmi nodrošina specializētus piekļuves režīmus un strādā ar ECC opciju. Pieejams. sākumā 26
Uzlabotā BAP nodrošina konfigurējamu saskarni, lai optimizētu testēšanu sistēmā. Tas atbalsta arī zema latentuma protokolu, lai konfigurētu atmiņas BIST kontrolieri, izpildītu Go/NoGo testus un uzraudzītu caurlaides/neveiksmes statusu.
Atmiņas testa algoritmus var cieti kodēt Tessent MemoryBist kontrollerī, pēc tam pielietot katrai atmiņai, izmantojot izpildlaika vadību. Tas ļauj jums izvēlēties īsākus testa algoritmus, kad ražošanas process nogatavojas.
Tessent MemoryBist remonta opcija novērš sarežģītības un izmaksas, kas saistītas ar ārējām remonta plūsmām. Tas pārbauda un neatgriezeniski labo visas mikroshēmā esošās bojātās atmiņas, praktiski neizmantojot ārējus resursus.
Skatieties, kā Etienne Racine, Tessent produktu vadītājs, runā par to, kā Tessent MemoryBist var palīdzēt palielināt testa kvalitāti, samazināt testa laiku, uzlabot ražu un labot atmiņas ar savu elastīgo arhitektūru.
Uzziniet, kā Tessent programmatūras izmantošana ļauj saskaņot jaunajiem standartiem un noteikumiem, vienlaikus piedāvājot pilnīgu risinājumu komplektu, lai apmierinātu mūsdienu automobiļu IC izstrādes prasības.
Šajā rakstā ir aprakstītas priekšrocības, ko rada koplietošanas kopnes arhitektūra atmiņu testēšanai un labošanai iPS kodolos, un tiek parādīta Tessent MemoryBist pieejamā automatizācija.
Šajā gadījuma pētījumā aprakstīts, kā ON Semiconductor izmantoja hierarhisko Tessent MemoryBist plūsmu, lai samazinātu atmiņas BIST ievietošanas laiku par 6X.
